Fyzikální ústav

Nejnovější přírůstky:
2017-03-17
18:38
Scanning thermal microscopy of thermoelectric pulsed laser deposited nanostructures
Vaniš, Jan ; Zelinka, Jiří ; Zeipl, Radek ; Jelínek, Miroslav ; Kocourek, Tomáš ; Remsa, Jan ; Navrátil, Jiří
New materials with high possible figure of merit ZT are of high interest as a promising candidates for thermoelectric applications such as energy harvesting. Miniaturization of such systems tends toward developing of the suitable characterization method with nanometer resolution ability. In our contribution, we present the development and experimental results of a simple scanning probe microscopy method for the relative thermal conductivity characterization. The possibility of the setup is demonstrated on the set of different thin thermoelectric layers grown from hot pressed targets by pulsed laser deposition on the reference Si substrate. All the measurements were performed on the commercial Veeco Multimode scanning AFM/STM microscope with home developed controller and by using PicoCal Inc. bolometer probes with tungsten resistive path. All the experiments were done in the air at the ambient condition. Additional sample treatment for the measurement will be also briefly described

Úplný záznam
2017-03-10
16:12
Metodika použití nízkoteplotního plazmatu za účelem sterilizace ran
Dejneka, Alexandr ; Kubinová, Šárka ; Moravec, J. ; Bezděk, D.
Cílem metodiky je řešení sterilizace kožního povrchu a ran ve veterinární medicíně pomocí aplikace nízkoteplotního plazmatu. Nízkoteplotní plazma (NTP) má nespecifické antimikrobiální účinky a lze jej bezpečně aplikovat na živé tkáně, aniž by došlo k jejich poškození. Metodika předkládá řešení sterilizace tkání a ran s potenciální bakteriální, plísňovou či kvasinkovou kontaminací. Metodu lze použít také k antimikrobiální dekontaminaci a podpoře hojení chronických a nehojících se ran.

Úplný záznam
2017-03-03
15:48
Příprava vzorků pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů / 2016
Olejník, Kamil
Zabývali jsme se litografickou přípravou vzorků používaných pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů.We have been working on lithographical preparation of specimens used for magnification calibration of electron microscopes.

Úplný záznam
2017-03-03
15:48
Plazmatická příprava kovových a oxidových vrstev na keramické a plastové substráty.
Olejníček, Jiří
Smluvní výzkum byl zaměřen na přípravu a optimalizaci procesu plazmatické depozice vybraných tenkých vrstev kovů a polovodivých oxidů s požadovanými optickými vlastnostmi. Cílem bylo připravit průhledné barevné electrochromické vrstvy na teplotně citlivé substráty, vrstvy s vysokým indexem lomu na lisované plastové struktury a lesklé kovové vrstvy na porézní keramické masky.\n

Úplný záznam
2017-03-03
15:48
Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016
Mates, Tomáš ; Fejfar, Antonín ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Bauerová, Pavla
Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.\nSkenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n

Úplný záznam
2017-03-03
15:48
Micro-Raman analysis of samples irradiated at the FLASH facility in Summer 2014 (Report v1-31_05_2016)
Toufarová, Martina ; Hájková, Věra ; Chalupský, Jaromír ; Juha, Libor
The goal of micro-Raman measurements was to indicate a presence of the carbon black grown in the FEL-illuminated areas on the sample surface. Twelve samples have been investigated and results have been reported to the X-ray Optics Group at the University of Twente.

Úplný záznam
2017-03-03
15:48
Cryogenic cooling system Brayton for 10 J/10 Hz Yb:YAG multi-slab based laser system at ELI-Beamlines project
Schustr, P. ; Fibrich, Martin ; Polan, Jiří ; Rus, Bedřich ; Dostálová, M. ; Valdislav, P. ; Simek, J.
We present design and operational prototype of cryogenic cooling system based on Bryton's cycle for 10J/10Hz Yb:YAG multi-slab laser system at ELI-Beamlines project.

Úplný záznam
2017-02-23
15:49
Calculations of nanocrystalline diamond-covered waveguides based on amorphous silicon
Jirásek, Vít ; Prajzler, Václav ; Remeš, Zdeněk
Nanocrystalline diamond (NCD) coatings on planar waveguides (WG) in the IR region allow to design optical sensors sensitive to absorbers like proteins or other biomolecules. In this contribution, we present a 2D model of a multi-layer WG developed under FEM (finite element method) simulation software Comsol Multiphysics. The model is based on the modified wave equation solved in the frequency domain and includes optical absorption. It was found that for the single-mode WG working in the narrow region of 1550-2000 nm the silicon thickness must be 150-320 nm. It was found that in order to keep a reasonable signal attenuation, the NCD film must be prepared with the optical absorption coefficient lower than 10 cm-1, being a rather challenging task. Dependencies of the signal attenuation on the NCD film thickness, absorbing layer height, its absorption coefficient and exciting wavelengths are presented.\n

Úplný záznam
2017-02-23
15:49
Aproximace Fourierových koeficientů difrakčních profilů
Čerňanský, Marian
Je podán stručný přehled aproximací, které se vyskytují ve Warrenově–Averbachově interpretaci Fourierových koeficientů difrakčních profilů. Je ukázáno, že jisté aproximace průběhu Fourierových koeficientů umožňují stanovit velikost krystalitů a mikrodeformací jen z jedné difrakční linie.\n\n

Úplný záznam
2017-01-12
16:23
Příprava vzorků
Kopeček, Jaromír
Základní shrnutí metalografických a materiálografických postupů a technik pro přípravu vzorků pro mikrosvazkovou analýzu v SEM a příbuzné techniky.

Úplný záznam