|
|
Near-field excited photoluminescence mapping
Klok, Pavel ; Ledinský, Martin (referee) ; Dvořák, Petr (advisor)
Tato práce se zabývá mapováním fotoluminiscence (PL) pomocí buzení blízkého pole (NF), které slouží ke zkoumání optoelektronických vlastností v nanometrovém měřítku. Díky překonání omezení tradičních optických technik v dalekém poli zkoumá jevy na menších rozměrech, které by jinak byly nedostupné. Hlavní důraz je kladen na NF rastrovací optickou mikroskopii, která umožňuje pozorování poddifrakčních jevů u studovaných vzorků. Významným přínosem této práce je zavedení časově rozlišitelného mapování PL v NF, tedy průlomové metody pro studium dynamických procesů pod hranicí difrakce. Tento přístup představuje nový přínos pro tento obor, což potvrzuje i přehled literatury uvedený v této práci. Díky pečlivému vyhodnocení a interpretaci měření PL tato práce rozšiřuje naše znalosti o optických vlastnostech olovnatých halogenidových perovskitů a jejich potenciálních aplikacích např. pro solární články. Dále odhaluje dosud neprozkoumané možnosti v oblasti časově rozlišitelného mapování PL v NF a poskytuje dosud nevídaný náhled do dynamických procesů pod difrakčním limitem. Posunutím hranic optického výzkumu na úrovni nanorozměrů vytváří tato diplomová práce základ pro nové směry zkoumání v této oblasti.
|
|
| |
|
|
Role of Urbach Energy in Photovoltaics
Vlk, Aleš ; Abelová, Lucie ; Hájková, Zdeňka ; Remeš, Zdeněk ; Holovský, Jakub ; Ledinský, Martin
Organic-inorganic halide perovskites provide new opportunities for improvement of optoelectronic device performance, especially the efficiency of solar cells. To evaluate the quality of a new material many parameters has to be taken into account. Here, we discuss one of the often overlooked semiconductor’s parameters, Urbach energy, which is an easily accessible measure of material disorder. Moreover, we present its importance on the example of organic-inorganic halide perovskites.
|
|
|
Structure and properties of DLC layers for industrial applications
Mates, Tomáš ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Fejfar, Antonín ; Marek, A. ; Vyskočil, J. ; Erichsen, J. ; Dawah, P.
Diamond-like carbon (DLC) layers based on amorphous carbon are used for wide range of applications, mostly for mechanical protection of various industrial components. We examined DLC layers at micro- and nanoscale by two independent microscopic techniques: Scanning Electron Microscopy (SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM) with a good agreement. We compared DLC layers grown on steel substrate and Si wafer and found similarly structured clusters and a certain difference in the density of nucleation centres. The measurements of local mechanical properties by the AFM tip revealed that the Si wafer behaves as softer material compared to the growing DLC nanoclusters that also exhibit lower values in the map of the relative local friction coefficient. Finally, we observed changes in the Raman spectra of the DLC exposed to annealing at ambient conditions and found a gradual shift from the diamond phase to the graphite phase as a function of increasing temperature.
|
|
|
The deposition of germanium nanoparticles on hydrogenated amorphous silicon
Stuchlík, Jiří ; Volodin, V.A. ; Shklyaev, A.A. ; Stuchlíková, The-Ha ; Ledinský, Martin ; Čermák, Jan ; Kupčík, Jaroslav ; Fajgar, Radek ; Mortet, Vincent ; More Chevalier, Joris ; Ashcheulov, Petr ; Purkrt, Adam ; Remeš, Zdeněk
We reveal the mechanism of Ge nanoparticles (NPs) formation on the surface of the hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) deposited by Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) on ITO and a on boron doped nanocrystalline diamond (BDD). The coating of Ge NPs on a-Si:H was performed by molecular beam epitaxy (MBE) at temperatures up to 450 °C. The Ge NPs were characterized by Raman spectroscopy, scanning electron microscopy (SEM) and high resolution transmission electron microscopy (HRTEM). The nanocrystalline Ge particles are conglomerates of nanocrystals of size 10-15 nm and quantum dots (QDs) with size below 2 nm embedded in amorphous Ge phase. After coating with Ge NPs the a-Si:H thin films show better adhesion on BDD substrates then on ITO substrates.
|
|
|
Portals in the field of information science and library science (analysis and evaluation of important systems in the Czech Republic and abroad)
Ledínský, Martin ; Stoklasová, Bohdana (advisor) ; Souček, Martin (referee)
Cílem diplomové práce je analyzovat vybrané portály v oboru Informační a knihovní vědy v České republice a zahraničí. Hlavní pozornost je věnována portálům v České republice, zejména oborové bráně Knihovnictví a informační věda, portálu Elektronických studijních textů ÚISK a portálu Informace pro knihovny. Ze zahraničních portálů jsou analyzovány slovenský portál InfoLib, portál Informační vědy encyklopedie Wikipedia a Knihovní portál UNESCO. První část práce popisuje nezbytné definice portálů a informační a knihovní vědy a kritéria kladená na portály pro tyto obory. V dalších kapitolách jsou analyzovány jednotlivé portály. V závěrečné kapitole jsou všechny analyzované portály shrnuty, posouzeny podle dalších vlastností a ohodnoceny formou silných a slabých stránek. Autor práce v závěru předpokládá, že toto hodnocení by mohlo přispět tvůrcům portálů k vylepšením a dalšímu rozvoji.
|
|
| |
|
|
Summary report of results of the contract research between FZU AV ČR, v.v. i. and HVM Plasma s.r.o. for 2016
Mates, Tomáš ; Fejfar, Antonín ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Bauerová, Pavla
Samples of protective layers based on DLC (Diamond-like-Carbon) on different substrates (test bodies and real components) were studied by several diagnostic methods.\nRaman spectroscopy was used for the detection of bindings in order to specify the structural variations, surface modifications both for as-deposited samples and particularly for samples that underwent different stress tests.\nScanning Electron Microscope (SEM) was used to examine the surface structure of layers in different locations on the sample and to search suitable test spots for the subsequent analysis by the Atomic Force Microscope (AFM). AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).\nOn a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n
|
|
| |
|
| |
guest ::
RSS feed.