Název: Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016
Překlad názvu: Summary report of results of the contract research between FZU AV ČR, v.v. i. and HVM Plasma s.r.o. for 2016
Autoři: Mates, Tomáš ; Fejfar, Antonín ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Bauerová, Pavla
Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok: 2017
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.\nSkenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n Samples of protective layers based on DLC (Diamond-like-Carbon) on different substrates (test bodies and real components) were studied by several diagnostic methods.\nRaman spectroscopy was used for the detection of bindings in order to specify the structural variations, surface modifications both for as-deposited samples and particularly for samples that underwent different stress tests.\nScanning Electron Microscope (SEM) was used to examine the surface structure of layers in different locations on the sample and to search suitable test spots for the subsequent analysis by the Atomic Force Microscope (AFM). AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).\nOn a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n
Klíčová slova: Atomic Force Microscopy; diamond like carbon layers; Energy Dispersive Spectroscopy; Focussed Ion Beam; Raman spectroscopy; Scanning Electron Microscopy

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0269213

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-263379


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Zprávy > Výzkumné zprávy