|
| |
|
|
Charakteristiky polovodičového BSE detektoru elektronového mikroskopu
Plot, Vítězslav ; Hubálek, Jaromír (oponent) ; Boušek, Jaroslav (vedoucí práce)
Práce se zabývá charakterizací polovodičového detektoru zpětně odražených elektronů. Teoretická část popisuje dva typy elektronových mikroskopů, interakci primárního svazku se vzorkem a jednotlivé druhy elektronů a záření vznikající při interakci. Dále jsou shrnuty nejpoužívanější typy detektorů elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Jsou popsány základní charakteristiky polovodičového detektoru zpětně odražených elektronů a metody jejich měření. Experimentální část se zabývá měřením charakteristik detektoru firmy Delong Instruments a jeho porovnáním s komerčně dostupnými detektory. Bylo provedeno měření voltampérové charakteristiky a proudu za temna, závislosti zisku na urychlovacím napětí a také časové odezvy detektoru.
|
|
|
Diagnostika ložisek elektrických motorů
Kratochvíl, Lumír ; Janda, Marcel (oponent) ; Vítek, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce po jednotlivých kapitolách člení klíčové jevy a poznatky které mají jako společného jmenovatele vznik nevratných procesů vedoucích k poškození ložisek v elektrických strojích a přístrojích. V úvodu práce je základní popis a dělení ložisek i s doporučenými metodami jejich základní obsluhy. Následující kapitoly se pak dále zabývají jednotlivými zdroji poškození, diagnostikou jednotlivých poškození, popřípadě detailněji zkoumají průvodní jevy poškozování ložisek. V první praktické části práce jsou fyzicky rozebrána poškozená ložiska a je provedena jejich diagnostika na elektronovém mikroskopu. Druhá část práce se zabývá vibrodiagnostikou a použitím vhodných metod pro zjištění stavu valivého ložiska a následně lokace původu zdroje vibrací na chybových frekvencích.
|
|
|
Elektronový ray tracer
Suchánek, Jan ; Lysek, Tomáš (oponent) ; Čadík, Martin (vedoucí práce)
Tato práce se věnuje simulaci elektronového mikroskopu. Spojuje poznatky z metod sledování paprsků a realistického zobrazování s fyzikálními poznatky z oblasti elektronové mikroskopie. Cílem práce je vytvořit funkční a co nejvěrnější simulátor skenovacího elektronového mikroskopu s kvalitním výstupem v úměrně rychlém čase. Přínos práce spočívá v získání dostatečného množství obrazového materiálu pro další zpracování, především v oblasti strojového učení, ale i pro usnadnění vývoje aplikací mikroskopu pro post-processsing. V současné době se obrázky získávají z reálného systému a ručně anotují.
|
|
|
Konstrukční návrh precizního manipulátoru
Stuchlík, Petr ; Pavlík, Jan (oponent) ; Vetiška, Jan (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá rozborem problematiky a následného konstrukčního řešení precizního manipulátoru využívaného jako stolek elektronového mikroskopu. První část závěrečné práce se zabývá problematikou, spojenou s pohybem zkušebního vzorku uvnitř elektronového mikroskopu. Následně byly navrženy možné konstrukční varianty, ze kterých se dále vyvíjely další kroky pro správnost a funkčnost manipulátoru. Jednotlivé silové namáhání součásti byly vypočítány. Výsledek práce byl zkonstruován jako CAD model s následným přenesením na výkres sestavy.
|
|
|
Modification of nanomanipulator used in electron microscope
Habarka, Ondrej ; Tkoč,, David (oponent) ; Krejsa, Jiří (vedoucí práce)
The goal of this master's thesis is to improve the smallest step performance of the nanomanipulator, that is used in electron microscope. The first part deals with analysis of the mechanism in order to find possible solutions. Further the thesis deals with testing the solutions such as optimizing stiffness of the pretension springs of the mechanism or changing lubrication of the worm drive of the mechanism. Result of the thesis is choice of the most suitable solution according to tests results and then modification of the nanomanipulator.
|
|
| |
|
|
Mikroskopická analýza defektů solárních článků
Brukner, Jakub ; Solčanský, Marek (oponent) ; Stojan, Radek (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá detekcí defektů solárních článků pomocí elektroluminiscence, elektronového mikroskopu a následného 3D modelování defektních oblastí a struktury solárního článku. V textu jsou popsány základní metody pro detekci defektů vyskytujících se v solárních článcích. Také jsou zde popsány základní defekty, které se mohou objevit při jejich výrobě. Pro lepší orientaci je zde také popsán základní princip funkčnosti solárních článků a postup jejich výroby.
|
|
|
Vliv vibrací na kvalitu snímků elektronového mikroskopu
Šafář, Pavel ; Horák, Karel (oponent) ; Havránek, Zdeněk (vedoucí práce)
Práce se zabývá jedním z parazitních vlivů působících na elektronový mikroskop během pořizování snímků, a to vibracemi. Jejich vliv na kvalitu snímku je zásadní a proto je žádoucí zjistit původ vibrací a způsob, jakým se na zařízení přenášejí, a pokusit se je co nejvíce eliminovat. Součástí práce je měření, jehož účelem je prověření zdrojů vibrací nacházejících se na zařízení i mimo něj.
|
|
| |
host ::
RSS.