|
|
Analysis and design of decoupling capacitors in the 65 nm CMOS digital standard library
Kučera, Radek ; Bartoš, Pavel (oponent) ; Král, Vojtěch (vedoucí práce)
This work deals with the design of decoupling capacitors in the form of CMOS transistors for stabilizing the supply voltage in a digital standard library, focusing on 65 nm technology. The introduction provides an overview of CMOS technology and a description of MOS structures. The analysis compares four topologies of decoupling capacitors (NMOS, PMOS, CMOS, Cross-Coupled) and identifies Cross-Coupled as the best choice. The last part focuses on the design and optimization of the layout of decoupling capacitors. Four different layouts were created, optimized for capacity, quality factor, leakage current, and a compromise between these factors, to be integrated into standard digital libraries according to specific applications.
|
|
|
In-situ charakterizace polovodičů pomocí technik rastrující sondové mikroskopie
Očkovič, Adam ; Pléha, David (oponent) ; Pavera, Michal (vedoucí práce)
Diplomová práce se zaměřuje na analýzu polovodičových součástek pomocí rastrovací sondové mikroskopie. V první části jsou krystalické látky rozděleny dle elektrických vlastností. Poté je uvedena teorie vlastních a nevlastních polovodičů, PN přechod a nakonec jsou představeny základní typy a funkce tranzistorů. Ve druhé kapitole jsou uvedeny techniky SPM a jejich principy fungování, které jsou vhodné pro poruchovou analýzu polovodičových součástek. Ve třetí kapitole je představena měřící sestava, která se skládá z rastrovacího elektronového mikroskopu MIRA a rastrovacího sondového mikroskopu LiteScope, který využívá samosnímací sondy. Ve čtvrté kapitole jsou představeny polovodičové vzorky, kterými byly wolframové prokovy v řezu CMOS čipu, řez bipolárním tranzistorem a lamela unipolárního tranzistoru MOSFET. Na těchto vzorcích byla v poslední kapitole provedena analýza technikami AFM, CAFM, EFM, KPFM a SSRM. U každé techniky a vzorku byla provedena analýza změřených dat. Společně s technikami byly představeny základní omezení a zajímavé výstupy pro poruchovou analýzu.
|
|
| |
|
|
Korekce křivosti výstupního napětí BandGap reference
Žeravík, František ; Háze, Jiří (oponent) ; Prokop, Roman (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá návrhem BandGap referencí podle P. Brokawa, v jednoduchém CMOS procesu a příslušných kompenzačních obvodů pro korekci křivosti výstupního napětí. V teoretické části je kladen důraz především na popis teplotní závislosti napětí UBE bipolárního tranzistoru a pochopení principu elementární BandGap reference. V návaznosti na tyto poznatky je popsána funkce a návrh obou BandGap referencí pro výstupní napětí 1,5 V. V druhé části se práce zaměřuje na popis různých metod pro korekci křivosti výstupního napětí. Na základě těchto metod jsou následně navržené BandGap reference 1. řádu doplněny o kompenzační obvody. V závěru jsou shrnuty a porovnány výsledné parametry navržených BandGap referencí bez korekce a s kompenzačním obvodem.
|
|
|
Design and implementation of camera module
Vokoun, Ondřej ; Bezdíček, Milan (oponent) ; Grepl, Robert (vedoucí práce)
Master thesis is aimed on the design of cheap and universal system, but also powerful enough to be able to obtain and process images from the digital camera sensor. Further part of the work is design and implementation of functions for image processing applications and communication with superior system.
|
|
| |
|
|
Návrh transkonduktančního zesilovače CMOS
Zelinka, Miloslav ; Bajer, Arnošt (oponent) ; Musil, Vladislav (vedoucí práce)
Práce se zabývá problematikou návrhu a simulace analogových integrovaných obvodů v technologii CMOS. Hlavním zaměřením práce je navrhnout transkonduktanční zesilovač a prostudovat jeho charakteristiku v kmitočtové oblasti. Je představen transkonduktanční operační zesilovač využívající kompenzačního kapacitoru. Tato kompenzační metoda rozštěpení pólů společně s nulujícím rezistorem zabraňuje vzniku oscilace. Páce se také zabývá obvodovým řešením operačních zesilovačů. Ověřuje vliv kmitočtových kompenzací na kmitočtovou a fázovou charakteristiku
|
|
|
Návrh smyčky fázového závěsu
Hejlek, Pavel ; Háze, Jiří (oponent) ; Prokop, Roman (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá návrhem smyčky fázového závěsu. V teoretické části je popsán její princip. V praktické části je podrobný matematický popis, volba různých bloků, výpočet návrhu a optimalizace výsledného řešení. Navržené řešení je simulováno a výsledky jsou komentovány.
|
|
|
Návrh operačního zesilovače CMOS
Nevrkla, Marek ; Bajer, Arnošt (oponent) ; Musil, Vladislav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou návrhu a simulace analogových integrovaných obvodů v technologii CMOS. Hlavním zaměřením práce je navrhnoutí transkonduktančního zesilovače pracujícího s nízkým vstupním rozdílovým napětím. Ukázka dvoustupňového transkonduktačního zesilovače s kompenzačním RC prvkem. Vytvoření topografie zesilovače pomocí technologie AMIS 07.
|
|
|
Roughness measurement with laser profilometry
Mach, Radoslav ; Frk, Martin (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
The bachelor thesis deals with technology of laser profilometry for material roughness measurements purposes. The theoretical part deals with all aspects of the issue in an effective way and highlights the essential characteristics of used components and material roughness. The focus of this work is in first step to describe the external factors affecting the visual image processing such as increasing of environment temperature and its effect for a camera sensors. And particularly the relationship between CMOS and CCD technologies. The second step is for measuring roughness parameters of materials, such as metal, wood, rubber and plastic with three different lasers. Results demonstrate correlation between the wavelengths of the used laser lights with particular materials.
|
host ::
RSS.