Ústav přístrojové techniky

Nejnovější přírůstky:
2024-12-14
00:13
SMV-2024-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky
Horáček, Miroslav ; Kolařík, Vladimír ; Krátký, Stanislav ; Brunn, Ondřej ; Chlumská, Jana ; Meluzín, Petr ; Košelová, Zuzana ; Král, Stanislav
Výzkum a vývoj v oblasti fyzikální realizace grafických a optických struktur na principu difraktivní optiky prostředky elektronové litografie v záznamovém materiálu neseném křemíkovou nebo skleněnou deskou. Výzkum zahrnuje analýzu grafického, resp. optického motivu, výzkum a aplikaci reliéfních struktur realizujících požadované grafické, resp. optické vlastnosti, výzkum a modelování možností fyzikální realizace reliéfních struktur, vypracování a analýzu technologie realizace reliéfní struktury s ohledem na limity současných vědeckých přístrojů, ověření teoretických úvah expozicí vzorku reliéfní struktury.

Úplný záznam
2024-12-14
00:13
SMV-2024-02: Metrologie reliéfních optických difrakčních prvků
Horáček, Miroslav ; Krátký, Stanislav
Výzkum v oblasti metrologie reliéfních optických mikrostruktur připravených nanoimprint litografií. Pomocí elektronové rastrovací mikroskopie (SEM) a konfokální laserové rastrovací mikroskopie (CLSM) byla zkoumána kvalita přenosu mikrostruktury ze silikonové předlohy do UV tvrditelného polymeru. Z nanoimprint replik optických mikrostruktur se pomocí výbrusů připravily řezy mikrostruktur a ty posloužily k měření reziduální vrstvy laku pod mikrostrukturami pomocí CLSM.

Úplný záznam
2024-12-01
00:39
SMV-2024-03: Vývoj testovacích preparátů pro REM
Horáček, Miroslav ; Matějka, Milan ; Krátký, Stanislav ; Meluzín, Petr ; Košelová, Zuzana ; Chlumská, Jana ; Kolařík, Vladimír ; Knápek, Alexandr
Studie se zaměřuje na výzkum a vývoj přesných kalibračních vzorků s reliéfními strukturami. Tyto vzorky jsou navrženy ke kalibraci zobrazování ve skenovacích elektronových mikroskopech (SEM). Testovací vzory umožňují ověření a kalibraci zvětšení, ortogonality a geometrického zkreslení. Příprava kalibračních vzorků využívá mikro litografické techniky přizpůsobené pro zpracování křemíku a dalších související technologické postupy.

Úplný záznam
2024-04-15
12:32
Měření ionizujícího záření pomocí optických vláken
Zbožínek, Tadeáš ; Jelínek, Michal ; Mikel, Břetislav
Příspěvek se zaměřuje na metodu měření ionizujícího záření s využitím optických vláken. Zaměřuje se na popsání a charakterizaci metody, kdy dochází k využití optických vláken k přenosu scintilačního záření. Porovnány jsou jednotlivé druhy optických vláken společně s různými druhy scintilačních senzorů.

Úplný záznam
2024-04-15
12:32
Laserová ablace atomů vápníku a hliníku jako zdroj částic pro iontovou past
Grim, Jakub ; Pekař, Zdeněk ; Pham, Minh Tuan ; Číp, Ondřej
Laserová ablace je účinnou metodou pro generování částic z různých materiálů, včetně těch s vysokou teplotou vypařování, jako je hliník. Využití vysokoenergetických laserových pulsů umožňuje kontrolované odpaření materiálu a vytvoření ablačního kráteru. V pilotní sestavě pro generování neutrálních atomů vápníku a hliníku pomocí laserové ablace byly dosaženy úspěšné výsledky. Metoda je porovnávána s tepelnou píckou s cílem optimalizovat proces generování těchto částic. Následná spektroskopická měření na generovaných atomech jsou prováděna s cílem optimalizace absorpce a emise fotonů pro následnou ionizaci v iontové pasti. Studie přechodů neutrálních atomů Ca a Al ukazuje, že laserová ablace poskytuje efektivnější generaci atomů s možností větší kontroly nad tímto procesem.

Úplný záznam
2024-04-15
12:31
SMV-2023-63: Odměřovací interferometrické systémy
Mikel, Břetislav
Smluvní výzkum byl zaměřen na vývoj víceosých odměřovacích systémů využívajících nejpřesnější způsob měření na principu interference laserového záření. Základní referencí je laserový zdroj o vlnové délce 633 nm. Odměřovací systémy jsou určeny do zařízení vyžadující přesnost měření v řádech nanometrů.

Úplný záznam
2024-04-15
12:31
SMV-2023-62: Optická hlava svazku A
Mikel, Břetislav
Studie proveditelnosti na vývoj principu, uspořádání a ověření Optické hlavy pro vlnovou délku 637 nm, která bude mít vstup přizpůsoben vláknovému konektoru FC/PC, na výstupu bude laserový svazek zaostřen na vzdálenost 400 mm s šířkou 6-10 mm, tloušťkou max. 60 um a hloubkou ostrosti min. 5 mm.

Úplný záznam
2024-04-15
12:31
SMV-2023-61: Odměřovací systémy pro litografy
Mikel, Břetislav
Smluvní výzkum byl zaměřen na vývoj víceosých odměřovacích systémů využívajících nejpřesnější způsob měření na principu interference laserového záření. Základní referencí je laserový zdroj o vlnové délce 633 nm. Odměřovací systémy jsou určeny do zařízení vyžadující přesnost měření v řádech nanometrů.

Úplný záznam
2024-04-15
12:31
SMV-2023-60: Metrologické nastavení měřícího systému PAZ
Mikel, Břetislav
Návrh a realizace měřícího systému pro metrologické nastavení měřícího systému PAZ na principu laserové interferometrie. Kalibrace měřícího systému PAZ navrženým kalibračním systémem.

Úplný záznam
2024-04-15
12:31
SMV-2023-59: Programovatelný akviziční systém AQS-PG V2.0
Vondra, Vlastimil
Posouzení specifikace zařízení z hlediska možností realizace zařízení pomocí přístrojového vybavení zhotovitele. Analýza požadavků zadání a vývoj metodiky řešení generátoru. Vypracování návrhu realizace dle požadovaných vlastností. Výroba mechanických a elektrických částí a nákup potřebných komponent. Ověření teoretických výchozích požadavků zadání praktickým měřením v určeném místě. Zkompletování 1 kusu experimentálního zařízení. Instalace, kalibrace zařízení na místě plnění. Zaškolení obsluhy u objednatele.

Úplný záznam