Název: 3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
Autoři: Hradilová, Monika ; Jäger, Aleš ; Lejček, Pavel
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Metal 2010, Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 2010-05-18 / 2010-05-20
Rok: 2010
Jazyk: eng
Abstrakt: The possibilities of analysis can be enhanced by utilizing focused ion beam (FIB). The FIB instrument allows revealing the structure in the third dimension by controlled and precise milling of the material. In combination with electron beam and suitable detector is possible to describe crystallography (EBSD) or chemical composition (EDS) etc. in three dimensions (3D). Thus, it is feasible to define real size, shape and distribution of microstructure features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.
Klíčová slova: 3D characterization; focused ion beam; scanning electron microscopy
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100520 (CEP)
Zdrojový dokument: Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials, ISBN 978-80-87294-15-4

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0191410

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42142


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference