Hlavní stránka > Výsledky hledání: Hradilová, Monika
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
 Hradilová, Monika ; Jäger, Aleš ; Lejček, Pavel
The possibilities of analysis can be enhanced by utilizing focused ion beam (FIB). The FIB instrument allows revealing the structure in the third dimension by controlled and precise milling of the material. In combination with electron beam and suitable detector is possible to describe crystallography (EBSD) or chemical composition (EDS) etc. in three dimensions (3D). Thus, it is feasible to define real size, shape and distribution of microstructure features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.
Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
6 Hradilová, Marta
3 Hradilová, Martina
1 Hradilová, Michaela
1 Hradilová, Miluše
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English