|
|
Analýza procesu výroby malých přírub
Talanda, Jiří ; Fiala, Alois (oponent) ; Koška, Petr (vedoucí práce)
Tématem diplomové práce je analýza procesu výroby malých přírub. Návrhu optimalizačních opatření předchází analýza výrobního procesu, jeho zmapování, sběr dat, analýza dat pomocí Paretovy analýzy a určení příčin vzniku neshod. Analýza příčin vzniku neshod je založena na analýze dat a pozorování procesu, je členěna do kapitol v návaznosti na faktory ovlivňující výrobu. Optimalizační opatření jsou navrhnuta s ohledem na jejich snadnou realizovatelnost a podmínky v organizaci.
|
|
|
Vývoj mobilních aplikací pro vzdálené ovládání přístrojové techniky
Macek, Michal ; Křivík, Petr (oponent) ; Frk, Martin (vedoucí práce)
Předkládaná práce popisuje rozšiřující se trend využívající mobilní zařízení k ovládání laboratorních přístrojů a zobrazování naměřených dat. Hlavním cílem je vývoj aplikace pro mobilní zařízení, díky které bude možné vzdáleně ovládat a měřit s přístroji v laboratoři. Praktická část je zaměřena na naprogramování mobilní aplikace, která s využitím místní sítě bude schopna připojit se k více laboratorním zařízením, nastavit je pro různé druhy měření a následně zobrazit naměřená data.
|
|
|
Nejistoty přesných délkových měření
Šrámek, Jan ; Brno), Václav Duchoň (ČMI (oponent) ; Vdoleček, František (vedoucí práce)
Diplomová práce má za úkol seznámit čtenáře, který se zajímá o problematiku nejistot délko-vých měření, s praktickou stránkou řešení těchto nejistot u jednoho velmi často používaného kalibračního postupu měření na délkoměru SIP. Toto měření bylo realizováno na půdě Českého metrologického institutu, kde autor pracuje, a tak mohl plně čerpat z množství vlastních zkušeností i zkušeností svých nadřízených a kolegů. Autor považuje národní metrologický orgán (ČMI) za dostatečnou záruku pro dále uváděné materiály, jak z hlediska odborné způsobilosti, tak i z hlediska formální korektnosti práce.
|
|
| |
|
|
Algoritmy řízení topného článku tepelného hmotnostního průtokoměru
Chromý, Adam ; Veselý, Libor (oponent) ; Václavek, Pavel (vedoucí práce)
Práce se zabývá měřicím zařízením EMS62, jehož měřicí metoda vychází z regulace teploty. Cílem práce je vytvoření simulačních modelů regulované soustavy a částí zařízení EMS62, které jsou zapojeny do regulační smyčky. Dalším cílem je odhalení chyb, kterých se dopustil konstruktér a návrh jejich řešení. Práce také analyzuje stabilitu regulační smyčky a navrhuje další algoritmy regulace. Veškeré výsledky jsou využitelné při dalším vývoji přístroje.
|
|
|
Zavedení metrologických postupů pro určování způsobilosti měřidel v oblasti tribologie
Rozlílková, Lada ; Harčarík, Matej (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce pojednává o metrologických postupech při určování způsobilosti měřidel ve výrobě firmy fungující v oblasti přesného strojírenství. Hlavním cílem každého podniku je jeho konkurenceschopnost v daném odvětví a spokojenost zákazníka. Z tohoto důvodu je v podnicích kladen velký důraz na modernizaci a optimalizaci procesu výroby, logistiky a na snížení dopadů na životní prostředí. Nároky zákazníka se neustále zvyšují, a proto je kladen důraz na přesnost výrobku. Je proto nejen nutná správná a přesná výroba, ale také kontrola jeho kvality, zda zapadá do daných tolerancí a vyhovuje tak zákazníkově požadavkům.
|
|
|
Stanovení přesnosti měření v nanometrologii
Šrámek, Jan ; Číp, Ondřej (oponent) ; Tykal, Miroslav (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Předkládaná disertační práce se zabývá měřením velmi malých rozměrů v nanometrologii pomocí dotykové nano-sondy, která je součástí třísouřadnicového měřicího stroje. V práci je prezentován nově vypracovaný přístup k problematice hodnocení přesnosti měření v oblasti přesného měření délky. Cílem práce je rozšíření možností měření prováděných na popisovaném přístroji a vytvoření návrhu postupu měření malých součástí včetně stanovení přesnosti měření tohoto přístroje při jeho použití v nanometrologii. Práce prezentuje nově vytvořený postup výpočtu nejistoty měření, který byl základní součástí stanovení přesnosti měření přesného třísouřadnicového měřicího stroje (dále jen nano-CMM). V první části disertační práce je uvedena analýza současného stavu v oblasti vyhodnocování přesnosti měření při realizaci přesných měření délky. Jsou zde definovány a popsány jednotlivé metody používané pro stanovení přesnosti měření nano-CMM. Je zde kladen důraz zejména na aparát stanovení nejistoty měření, kdy je čerpáno z autorových zkušeností z praxe metrologa pracujícího v laboratoři Oddělení Primární nanometrologie a technické délky Českého metrologického institutu v Brně (dále je ČMI Brno). Druhá část disertační práce se zaměřuje na vlastní problematiku stanovení přesnosti délkových měření v nanometrologii s důrazem na provedení souboru měření za dodržení podmínek reprodukovatelnosti a opakovatelnosti. Je zde rovněž popsán a vyzkoušen konkrétní simulační proces, kdy se pomocí metody Monte Carlo provádí simulaci měřicího systému nano-CMM za účelem doplnění nově vytvořeného aparátu pro stanovení nejistoty měření dotykovou nano-sondou na tomto přístroji. Podstatnou součástí této části disertační práce je podrobné vyhodnocení výsledků měření z provedených experimentů za dodržení podmínek opakovatelnosti a reprodukovatelnosti a zejména potřeby stanovení nejistoty měření nano-CMM. Nejistota měření je v disertační práci vyjádřena pro kvantifikaci přesnosti měření tohoto přístroje. Závěr práce shrnuje získané poznatky v oblasti provedeného vědeckého výzkumu včetně jejich vyhodnocení v rámci zvolené metodiky pro stanovení přesnosti měření v nanometrologii. Naznačuje budoucí postup možný v oblasti výzkumu i praktického použití v oblasti metrologické návaznosti a provádění vysoce přesných měření pro zákazníky. Zabývá se i možností využití dalších snímacích systémů použitelných na zkoumaném nano-CMM.
|
|
|
Stanovení přesnosti měření v nanometrologii
Šrámek, Jan ; Číp, Ondřej (oponent) ; Tykal, Miroslav (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Předkládaná disertační práce se zabývá měřením velmi malých rozměrů v nanometrologii pomocí dotykové nano-sondy, která je součástí třísouřadnicového měřicího stroje. V práci je prezentován nově vypracovaný přístup k problematice hodnocení přesnosti měření v oblasti přesného měření délky. Cílem práce je rozšíření možností měření prováděných na popisovaném přístroji a vytvoření návrhu postupu měření malých součástí včetně stanovení přesnosti měření tohoto přístroje při jeho použití v nanometrologii. Práce prezentuje nově vytvořený postup výpočtu nejistoty měření, který byl základní součástí stanovení přesnosti měření přesného třísouřadnicového měřicího stroje (dále jen nano-CMM). V první části disertační práce je uvedena analýza současného stavu v oblasti vyhodnocování přesnosti měření při realizaci přesných měření délky. Jsou zde definovány a popsány jednotlivé metody používané pro stanovení přesnosti měření nano-CMM. Je zde kladen důraz zejména na aparát stanovení nejistoty měření, kdy je čerpáno z autorových zkušeností z praxe metrologa pracujícího v laboratoři Oddělení Primární nanometrologie a technické délky Českého metrologického institutu v Brně (dále je ČMI Brno). Druhá část disertační práce se zaměřuje na vlastní problematiku stanovení přesnosti délkových měření v nanometrologii s důrazem na provedení souboru měření za dodržení podmínek reprodukovatelnosti a opakovatelnosti. Je zde rovněž popsán a vyzkoušen konkrétní simulační proces, kdy se pomocí metody Monte Carlo provádí simulaci měřicího systému nano-CMM za účelem doplnění nově vytvořeného aparátu pro stanovení nejistoty měření dotykovou nano-sondou na tomto přístroji. Podstatnou součástí této části disertační práce je podrobné vyhodnocení výsledků měření z provedených experimentů za dodržení podmínek opakovatelnosti a reprodukovatelnosti a zejména potřeby stanovení nejistoty měření nano-CMM. Nejistota měření je v disertační práci vyjádřena pro kvantifikaci přesnosti měření tohoto přístroje. Závěr práce shrnuje získané poznatky v oblasti provedeného vědeckého výzkumu včetně jejich vyhodnocení v rámci zvolené metodiky pro stanovení přesnosti měření v nanometrologii. Naznačuje budoucí postup možný v oblasti výzkumu i praktického použití v oblasti metrologické návaznosti a provádění vysoce přesných měření pro zákazníky. Zabývá se i možností využití dalších snímacích systémů použitelných na zkoumaném nano-CMM.
|
|
|
Zavedení metrologických postupů pro určování způsobilosti měřidel v oblasti tribologie
Rozlílková, Lada ; Harčarík, Matej (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce pojednává o metrologických postupech při určování způsobilosti měřidel ve výrobě firmy fungující v oblasti přesného strojírenství. Hlavním cílem každého podniku je jeho konkurenceschopnost v daném odvětví a spokojenost zákazníka. Z tohoto důvodu je v podnicích kladen velký důraz na modernizaci a optimalizaci procesu výroby, logistiky a na snížení dopadů na životní prostředí. Nároky zákazníka se neustále zvyšují, a proto je kladen důraz na přesnost výrobku. Je proto nejen nutná správná a přesná výroba, ale také kontrola jeho kvality, zda zapadá do daných tolerancí a vyhovuje tak zákazníkově požadavkům.
|
|
| |
host ::
RSS.