Název: Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
Autoři: Vaněček, Milan ; Holovský, Jakub ; Poruba, Aleš ; Remeš, Zdeněk ; Purkrt, Adam
Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok: 2015
Jazyk: eng
Abstrakt: Optical and photoelectrical properties of materials from TEL Solar were characterized in the Institute of Physics, AS CR in a broad spectral region and a high dynamic range. Conclusions on material properties with respect to thin film silicon solar cells were drawn.
Klíčová slova: amorphous silicon; microcrystalline silicon; optical properties; ZnO

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0258426

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-203304


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Zprávy > Výzkumné zprávy