Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 16 záznamů.  1 - 10další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Směšovač vysokofrekvenčních signálů
Kolář, Jan ; Urbanec, Tomáš (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je popsat hlavní paramtery směšovačů spolu s jejich principiálním měřením. Jsou zde uvedeny přístroje a metody, pomocí nichž lze parametry měřit. U vybraných parametrů jsou uvedeny i jejich typické hodnoty. Dále jsou v této práci uvedeny možnosti realizace směšovačů jak z hlediska použitých součástek, tak i z hlediska obvodového zapojení. Součástí práce je i sestavení funkčního směšovače, změření jeho parametrů a návrh laboratorní úlohy a automatizovaného měření směšovače v prostřední Agilent VEE
Přesná měření vlastností polovodičových součástek
Smělík, Martin ; Šebesta, Jiří (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce bylo navrhnout laboratorní pracoviště pro přesná měření stálosti výstupních parametrů polovodičových součástek. Součástí je také termostat, který udržuje konstantní teplotu proměřované součástky. Celý laboratorní přípravek je ovládán pomocí počítače přes rozhraní USB. Na počítači je vytvořen program v ovládacím prostředí Agilent VEE pro automatizované měření těchto polovodičových součástek.
Komunikační rozhraní pro ovládání spektrálního analyzátoru
Smělík, Martin ; Šebesta, Jiří (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této diplomové práce bylo navrhnout a realizovat nové komunikační rozhraní pro spektrální analyzátor Seaward EMC Spectrum Receiver, které je místo rozhraní RS 232 připojeno k počítači pomocí rozhraní USB. Tato práce obsahuje návrh hardwarového i softwarového vybavení na základě analýzy a úplného pochopení komunikace mezi tímto spektrálním analyzátorem a počítačem. Dále obsahuje podrobný popis realizace celého komunikačního rozhraní a také ukázku měření z oblasti EMC problematiky. Poslední částí práce byla realizace automatizovaného měření pomocí vývojových prostředí MATLAB a Agilent VEE, ve kterém bylo provedeno měření rušivého pozadí.
Měření rychlosti šíření ultrazvuku
Pouč, Petr ; Roleček, Jiří (oponent) ; Jiřík, Radovan (vedoucí práce)
Práce se zabývá metodami měření rychlosti šíření ultrazvuku. Rychlost šíření ultrazvuku byla zjištěna na základě detekce doby letu ultrazvuku od vysílače k přijímači. Byly vyvinuty tři metody pro určení rychlosti šíření ultrazvuku v médiu. Vytvořené algoritmy byly následně vyzkoušeny v navrženém programu. Veškerý software byl vytvořen v programovém prostředí Agilent VEE Pro 8.5. Práce dále obsahuje návrh dvou laboratorních úloh měření šíření ultrazvuku použitelných při výuce na Ústavu biomedicínského inženýrství.
Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Lang, Radek ; Šotner, Roman (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem.
Měření harmonického zkreslení tranzistorového zesilovače
Drbohlav, Lukáš ; Kratochvíl, Tomáš (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem automatizovaného měření parametrů jednoduchého tranzistorového zesilovače pomocí akviziční jednotky Agilent Technologies U2351A v programu Agilent VEE. Součástí práce je návrh jednoduchého tranzistorového zesilovače pracujícího v audio frekvenčním pásmu. Dále je zde uveden rozbor jednotlivých tříd a parametrů těchto zesilovačů, možností jejich měření, zejména pak možností měření jejich harmonického zkreslení. Práce také obsahuje návrh měřící úlohy s akviziční jednotkou pro laboratorní výuku předmětu Radioelektronická měření.
Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Lang, Radek ; Šotner, Roman (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem.
Návrh měřicího pracoviště pro šumovou spektroskopii
Segiňák, Ján ; Fiala, Pavel (oponent) ; Szabó, Zoltán (vedoucí práce)
Práca obsahuje literárnu rešerš z oblasti šumu, spektroskopie a spektroskopických meracích metód v rámci širokého pásma frekvencií. Bola navrhnutá experimentálna meracia metóda pre meranie vzoriek materiálov šumovou spektroskopiou v meranom pásme 0,1 – 6 GHz, s použitím širokopásmového generátora šumu a zostavené meracie pracovisko pre šumovú spektroskopiu s popisom jednotlivých častí. Programová podpora pre automatizované meranie vzoriek bola vytvorená v prostredí Agilent VEE. Posledná časť práce sa venuje meraniu vybraných vzoriek a vyhodnocovaniu výsledkov merania.
Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Lang, Radek ; Šotner, Roman (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem.
Návrh měřicího pracoviště pro šumovou spektroskopii
Segiňák, Ján ; Fiala, Pavel (oponent) ; Szabó, Zoltán (vedoucí práce)
Práca obsahuje literárnu rešerš z oblasti šumu, spektroskopie a spektroskopických meracích metód v rámci širokého pásma frekvencií. Bola navrhnutá experimentálna meracia metóda pre meranie vzoriek materiálov šumovou spektroskopiou v meranom pásme 0,1 – 6 GHz, s použitím širokopásmového generátora šumu a zostavené meracie pracovisko pre šumovú spektroskopiu s popisom jednotlivých častí. Programová podpora pre automatizované meranie vzoriek bola vytvorená v prostredí Agilent VEE. Posledná časť práce sa venuje meraniu vybraných vzoriek a vyhodnocovaniu výsledkov merania.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 16 záznamů.   1 - 10další  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.