|
| |
|
|
Přípravky a zařízení pro ohýbání trubek
Kašpárek, Jan ; Štroner, Marek (oponent) ; Peterková, Eva (vedoucí práce)
Bakalářská práce je zaměřena na vytvoření všeobecného přehledu používaných přípravků a zařízení pro ohýbání trubek. Na základě literární studie byl dále vytvořen přehled základních metod používaných pro ohyb trubek. Provedením průzkumu výrobních programů výrobců strojů pro ohýbání trubek byly popsány jednotlivé principy metod, které jsou doplněny příslušnou obrázkovou dokumentací. Ke každé metodě bylo uvedeno několik příkladů výrobců zařízení. Přiložená obrázková dokumentace názorně ukazuje konstrukci jednotlivých strojů a použité přípravky.
|
|
| |
|
|
Microdefects in Czochralski Silicon
Válek, Lukáš ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Mikulík, Petr (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
The doctoral thesis deals with analyses of defects in single crystals of Czochralski silicon doped with boron. Mechanisms of formation of circular patterns of oxidation induced stacking faults are studied. The main goal of the work is to explain the mechanisms of formation of the observed defect patterns and to develop methods for control of this phenomenon. Mechanisms of defect formation in silicon are analyzed and the material is experimentally studied in order to explain relations between formation of defects of various kinds and to link these processes to parameters of the crystal and its growth. A qualitative model capturing all these relations is built and utilized to develop an optimized crystal growth process for suppression of excessive formation of the oxidation induced stacking faults. Novel methods are developed and implemented to support effective analyses of crystal defects. This doctoral thesis was written with the support of ON Semiconductor Czech Republic, Rožnov pod Radhoštěm.
|
|
| |
|
|
Analýza závad na DPS pomocí X-RAY
Mlýnek, Martin ; Vala, Radek (oponent) ; Řihák, Pavel (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na BGA (Ball Grid Array) pouzdra a detekci chyb vzniklých při jejich opravách pomocí rentgenového záření. Popisuje obecně BGA pouzdra podle druhu nosného substrátu, techniky připojování čipů, přes montáž samotných pouzder až po proces opravy desek plošných spojů (dále jen DPS). Práce shrnuje popis defektů, které vznikají procesem opravy. V práci je popsán princip rentgenového záření, jako metoda analýzy defektů pájených spojů. Metoda X – PLANE slouží k detekci vnitřních struktur BGA pouzder a byla potvrzena metalografickým výbrusem a rekonstrukčním softwarem. Dále následuje popis automatického a manuálního měření dutin.
|
|
|
Laminace nízkoteplotní keramiky
Hudeček, Ondřej ; Klíma, Martin (oponent) ; Kosina, Petr (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá optimalizací procesu laminace nízkoteplotní keramiky, která ovlivňuje výslednou kvalitu 3D struktur (např. kanálky, dutiny, membrány). Práce hodnotí vliv laminačních parametrů (tlak, teplota, čas) na vznik defektů ve struktuře, které byly vhodnými metodami detekovány. V poslední části práce byl navrhnut a simulován systém vodního chlazení s využitím technologie LTCC.
|
|
|
Syntéza struktur s elektromagnetickým zádržným pásmem
Šedý, Michal ; Kovács, Peter (oponent) ; Raida, Zbyněk (vedoucí práce)
V mikrovlnném pásmu se pro realizaci elektronických obvodů využívají především planární technologie. Problémem planárních obvodů je šíření povrchové vlny. Povrchové vlny způsobují nechtěné vazby mezi dílčími částmi struktury a degradují její parametry. Řešením je využití struktur s elektromagnetickým zádržným pásmem. Jedná se o periodické struktury, které jsou schopny v určitých pásmech kmitočtů povrchové vlny zadržovat. Tématem práce je seznámení se s modelováním těchto struktur v programu Comsol Multiphysics pro jedno- a dvou rozměrné struktury.
|
|
|
Diagnostika fotovoltaických článků pomocí LBIV
Sládek, František ; Jandová, Kristýna (oponent) ; Vaněk, Jiří (vedoucí práce)
Cílem této diplomové práce je seznámení se s metodami měření fotovoltaických článků. Práce se zabývá také nejčastějšími defekty, které vznikají při výrobě fotovoltaických článků, dále je zde navrhnuto a realizováno diagnostické pracoviště používající metodu Light Beam Inducted Voltages (LBIV). Pomocí této metody jsou analyzovány struktury fotovoltaických článků a porovnány s metodou Light Beam Inducted Current (LBIC).
|
|
| |
host ::
RSS.