Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 46 záznamů.  předchozí11 - 20dalšíkonec  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Mikroskopická analýza defektů solárních článků
Brukner, Jakub ; Solčanský, Marek (oponent) ; Stojan, Radek (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá detekcí defektů solárních článků pomocí elektroluminiscence, elektronového mikroskopu a následného 3D modelování defektních oblastí a struktury solárního článku. V textu jsou popsány základní metody pro detekci defektů vyskytujících se v solárních článcích. Také jsou zde popsány základní defekty, které se mohou objevit při jejich výrobě. Pro lepší orientaci je zde také popsán základní princip funkčnosti solárních článků a postup jejich výroby.
Diagnostika ložisek elektrických motorů
Kratochvíl, Lumír ; Janda, Marcel (oponent) ; Vítek, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce po jednotlivých kapitolách člení klíčové jevy a poznatky které mají jako společného jmenovatele vznik nevratných procesů vedoucích k poškození ložisek v elektrických strojích a přístrojích. V úvodu práce je základní popis a dělení ložisek i s doporučenými metodami jejich základní obsluhy. Následující kapitoly se pak dále zabývají jednotlivými zdroji poškození, diagnostikou jednotlivých poškození, popřípadě detailněji zkoumají průvodní jevy poškozování ložisek. V první praktické části práce jsou fyzicky rozebrána poškozená ložiska a je provedena jejich diagnostika na elektronovém mikroskopu. Druhá část práce se zabývá vibrodiagnostikou a použitím vhodných metod pro zjištění stavu valivého ložiska a následně lokace původu zdroje vibrací na chybových frekvencích.
Elektronový ray tracer
Suchánek, Jan ; Lysek, Tomáš (oponent) ; Čadík, Martin (vedoucí práce)
Tato práce se věnuje simulaci elektronového mikroskopu. Spojuje poznatky z metod sledování paprsků a realistického zobrazování s fyzikálními poznatky z oblasti elektronové mikroskopie. Cílem práce je vytvořit funkční a co nejvěrnější simulátor skenovacího elektronového mikroskopu s kvalitním výstupem v úměrně rychlém čase. Přínos práce spočívá v získání dostatečného množství obrazového materiálu pro další zpracování, především v oblasti strojového učení, ale i pro usnadnění vývoje aplikací mikroskopu pro post-processsing. V současné době se obrázky získávají z reálného systému a ručně anotují.
Konstrukční návrh precizního manipulátoru
Stuchlík, Petr ; Pavlík, Jan (oponent) ; Vetiška, Jan (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá rozborem problematiky a následného konstrukčního řešení precizního manipulátoru využívaného jako stolek elektronového mikroskopu. První část závěrečné práce se zabývá problematikou, spojenou s pohybem zkušebního vzorku uvnitř elektronového mikroskopu. Následně byly navrženy možné konstrukční varianty, ze kterých se dále vyvíjely další kroky pro správnost a funkčnost manipulátoru. Jednotlivé silové namáhání součásti byly vypočítány. Výsledek práce byl zkonstruován jako CAD model s následným přenesením na výkres sestavy.
Srovnání vlivu tvaru konvergentní a Lavalovy dýzy v clonkách detektoru na výsledný tlak na dráze sekundárních elektronů pomocí systému CAE
Vyroubal, Petr ; Polsterová, Helena (oponent) ; Maxa, Jiří (vedoucí práce)
Předložená diplomová práce se zabývá srovnáním vlivu tvarů konvergentní a Lavalovy dýzy v clonkách detektoru sekundárních elektronů na výsledný tlak a proudění plynu sekundárních elektronů v detektoru pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop. K analýze jsou použity systémy pro podporu inženýrských prací CAD a CAE, Solid-Works a SolidWorks Flow Simulation.
Kontrast v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru ve VP SEM
Goroš, Pavel ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou zkoumání látek elektronovým paprskem. Zaměřuje se na zkoumání látek pomocí metody environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (ESEM) a popisuje její zákonitosti. Přednosti ESEM vynikají především při studii nevodivých nebo vodu obsahujících, často biologických vzorků. Tyto vzorky nemusejí být, na rozdíl od klasického rastrovacího elektronového mikroskopu, nijak preparovány či fixovány a díky tomu je studována jejich přirozená povrchová struktura bez poškození vyschnutím. Základním zaměřením práce je stanovení kontrastu v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru.
Analýza nadzvukového proudění plynu v diferenciálně čerpané komoře elektronového mikroskopu
Matloch, Roman ; Vyroubal, Petr (oponent) ; Maxa, Jiří (vedoucí práce)
V práci bude nejprve stručně popsána problematika elektronové mikroskopie a fyzikální model proudění tekutiny. Následně předložená diplomová práce se bude zabývat analýzou a vyhodnocením vlivu nadzvukového proudění na tlak a hustotu v dráze primárního svazku elektronů v komoře diferenciálního čerpání. Jako nástroje pro analýzu, vyhodnocení a prozkoumání dané problematiky budou použity systémy CAD a CAE (Computer Aided Engineering - počítačová podpora inženýrských prací). Současně bude vytvořena metodika výpočtu uplatnitelná pro nadzvukové proudění v oblasti nízkých tlaku v systému ANSYS CFX.
Design and implementation of testing device for specimen mechanism for electron microscope
Trnkócy, Tomáš ; Radoš, Jiří (oponent) ; Krejsa, Jiří (vedoucí práce)
This thesis deals with design and implementation of a testing device for a specimennmechanism in electron microscope. The testing device and its software providesnmeasuring of important parameters of the mechanism, their statistical evaluationnand confrontation with specification. The aim is to build complex test tool with simple user interface in order to replace the old and unstable version and its extension with new tests.
Generation and applications of pulsed beam in an electron microscope
Nekula, Zdeněk ; Kozák,, Martin (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Electron microscopes are used worldwide both in industry and basic research. This master thesis describes how to use small electrostatic deflectors to provide high time resolution in both transmission (TEM) and scanning (SEM) electron microscopes. The described method for TEM is a new solution utilizing a streak camera effect. This approach stands out for its simplicity, sub-picosecond time resolution, and flexible time range. Next, in SEM, a small electrostatic deflector makes a pulsed electron beam. This pulsed beam is used for time-resolved detection thanks to the stroboscopic effect. For SEM, the thesis demonstrates two new methods how to measure an electron pulse length, and also two applications of time-resolved detection. They are a time-resolved voltage contrast and a time-resolved electric field.
Vývoj mikromanipulátoru pro rastrovací elektronový mikroskop
Palouda, Adam ; Dostál, Zbyněk (oponent) ; Nováček, Zdeněk (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vývojem mikromanipulátoru pro rastrovací elektronový mikroskop. Nejprve poskytuje shrnutí základních poznatků o elektronové mikroskopii zaměřené především na návrh a výrobu vakuových systémů pro mikroskopy. Shrnuje také možnosti využití 3D tisku při výrobě prototypů vakuových systémů. Poté přistupuje ksamotnému vývoji mikromanipulátoru, který umožní měření katodoluminiscence v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Zařízení se skládá z průchodky, přes kterou je dovnitř mikroskopu přivedeno optické vlákno, a z přesného manipulátoru, který umožní konec optického vlákna namířit na vybrané místo na vzorku. Signál z optického vlákna je zpracováván ve fotonásobiči, pro který je v rámci této práce vytvořen kryt, nebo ve spektrofotometru. Součástí je také popis testů a měření prováděných v průběhu vývoje a následných opatření pro dosažení lepší funkčnosti a uživatelského komfortu.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 46 záznamů.   předchozí11 - 20dalšíkonec  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.