"Multinational Congress on Microscopy /8./" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: "Multinational Congress on Microscopy /8./"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Scintilační detektor sekundárních elektronů v EREM Jirák, Josef ; Linhart, Jan ; Neděla, Vilém ; Černoch, P. ; Špinka, J. V presentovaném scintilačním detektoru sekundárních elektronů je komora scintilátoru oddělena od komory vzorku pomocí dvou clonek o průměru několik stovek mikrometrů. Úplný záznam
	Studie mikrostruktury kompozitních materiálů na bázi hliníku Matsuda, K. ; Kawabata, T. ; Uetani, Y. ; Ikeno, S. ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk Jsou shrnuty výsledky zkoumání mikrostruktury různých kompozitních materiálů s kovovou matricí na bázi hliníku, získané pomocí nízkoenergiové rastrovací elektronové mikroskopie. Úplný záznam
	Detekční strategie pro sběr sekundárních elektronů v REM Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Wandrol, Petr ; Mika, Filip ; Müllerová, Ilona Sekundární elektrony (SE) jsou v rastrovacím elektronovém mikroskopu (REM) obvykle detekovány pomocí Everhartova-Thornleyho (ET) detektoru, jehož slabé elektrostatické pole přitahuje nízko energiové SE; takový systém nazveme standardní. Tento systém se používá více než 40 let. Moderní REM dosahují zlepšení obrazového rozlišení vlivem silného magnetického pole objektivové čočky, které proniká do oblasti vzorku (tzv. imerzní systém). V tomto případě se obvykle používají dva SE detektory: jeden umístěný pod objektivem (spodní detektor) a druhý se nachází uvnitř objektivu (horní detektor). Výsledný kontrast obrazu sekundárních elektronů stejného vzorku se mění s energiovou a úhlovou citlivostí detektoru, v závislosti na rozložení elektrostatického a magnetického pole v okolí vzorku. Studium sběrové účinnosti jednotlivých detektorů je nezbytné pro správnou interpretaci pozorovaného kontrastu. Úplný záznam
	Paralelní snímání úhlového rozložení zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk ; Matsuda, K. Je presentován princip, konstrukce, zavedení a výsledky demonstračních experimentů pro osmikanálový paralelní detektor zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu, schopný rozlišovat polární úhly emise elektronů ze vzorku. Úplný záznam
	Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu Novák, Libor ; Müllerová, Ilona Proces zpracování signálu v detektoru sekundárních elektronů Everhart-Thornleyho typu v rastrovacím elektronovém mikroskopu je analyzován pokud jde o statistiku signálu, detekční kvantovou účinnost a přenos informace a její případné ztráty. Úplný záznam
	Modelování EBSD obrazců kvazikrystalů Buršík, Jiří Modelování EBSD obrazců kvazikrystalů. Úplný záznam
	TEM studium mnohostěnných uhlíkových nanotrubek v mikrovlnném hořáku při atmosferickém tlaku Buršík, Jiří ; Prodan, G. ; Jašek, O. ; Zajíčková, L. ; Eliáš, M. ; Ciupina, V. Studium fázových rovnováh ve slitinách Ni-Al-Ti-Cr-Co pomocí analytiké eletronové mikroskopie. Úplný záznam
	Stavba polyuretanových geokompozitních materiálů - vizualizační a zobrazovací metody Ščučka, Jiří V příspěvku je prezentováno využití různých technik optické mikroskopie v kombinaci se zpracováním a analýzou obrazu pro zviditelnění a zobrazení stavby geokompozitních materiálů s polyuretanovými pojivy. Úplný záznam
	Přístupy k visualizaci obrazů 3D struktur získaných konfokálním mikroskopem Čapek, Martin ; Janáček, Jiří ; Kubínová, Lucie ; Hána, K. ; Smrčka, P. Článek popisuje přístupy k objemové rekonstrukci a vizualizaci 3D biologických struktur nasnímaných konfokálním mikroskopem Úplný záznam
	Rastrovací elektronová mikroskopie mokrých vzorků syntetických polymerů Šlouf, Miroslav ; Studenovská, Hana ; Rypáček, František ; Sikora, Antonín Syntetické polymery s vysokým obsahem vody (mokré syntetické polymery, hydrogely) se často používají jako umělé tkáně. Studium jejich 3D struktury pomocí elektronové mikroskopie je velmi obtížné: ve standardním elektronovém mikroskopu se totiž voda ze vzorku téměř okamžitě odpaří a jeho struktura se zhroutí. Nicméně je možno strukturu hydrogelů pozorovat pomocí specielních technik, jako je mrazová nízkovakuová rastrovací elektronová mikroskopie (cryoLVSEM) a environmenální rastrovací elektronová mikroskopie (ESEM). Tyto dvě techniky jsou v příspěvku popsány a porovnány. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English