Název: Nástroj pro generování testovacích cest dle zadaného kritéria
Překlad názvu: A Tool for Generating Test Paths Based on a Given Criterion
Autoři: Bíl, Jan ; Rogalewicz, Adam (oponent) ; Smrčka, Aleš (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2024
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Automatické generování testovacích vstupů dle zadaného kritéria pokrytí má potenciál ušetřit velkou část nákladů při vývoji kritických aplikací. V rámci této práce byl navržen a naimplementován nástroj, který postupně generuje cesty grafem toku řízení odpovídající funkcím takové aplikace, které splňují zadané kritérium pokrytí. Tyto cesty převádí na odpovídající SMT (Satisfiability Modulo Theories) formuli pro kterou se ověří její sémantická splnitelnost SMT řešičem Z3. Pro sémanticky splnitelné cesty je zároveň vygenerováno ohodnocení vstupů, pro které formule platí. Tato ohodnocení dohromady tvoří sadu testovacích vstupů splňující zadané kritérium pokrytí. Tyto testovací vstupy jsou hodnoty parametrů testované funkce a stavu globálních proměnných. The automatic generation of test inputs according to a specified coverage criterion has the potential to significantly reduce costs in the development of critical applications. This work focuses on designing and implementing a tool that systematically generates paths in the control flow graph generated from function of such application, that meet the specified coverage criterion targets. These paths are then transformed into the corresponding SMT (Satisfiability Modulo Theories) format, and their feasibility is verified using the Z3 SMT solver. For paths that are feasible, a set of input valuations for which the formula holds is simultaneously generated. This collection of valuations formes a set of test inputs that effectively meet the desired coverage criterion. Final test inputs are tested function parameters and state of global parameters.
Klíčová slova: automatické generování; CFG; kritické systémy; kritéria pokrytí; SMT řešič; testování; automatic generation; CFG; coverage criteria; critical systems; SMT Solver; testing

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/249001

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-619140


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce