Název: Optimization of Parameters Used in the Application of Elimination Voltammetry with Linear Scan
Autoři: Navrátil, Tomáš ; Trnková, L. ; Hrdlička, Vojtěch ; Li, X.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Modern Electrochemical Methods /43./, Jetřichovice (CZ), 20240520
Rok: 2024
Jazyk: eng
Abstrakt: Elimination Voltammetry with Linear Scan (EVLS) is a well-established mathematical method that aids in understanding an analyzed electrochemical system. In almost 30 years since its derivation, it has become a “black-box” technique that is applied automatically (in most cases due to its incorporation into a voltammetric software) without thinking about its fundamentals. However, the choice of optimum parameters under which DC voltammetric data (from which elimination curves are calculated) is crucial. This contribution deals with revealing the optimum ratio of applied scan rates and their absolute values (i.e., times of recording) in dependence on the character of the investigated system (diffusion-controlled process, adsorption-controlled process, etc.).
Klíčová slova: adsorption; elimination voltammetry with linear scan; optimization
Zdrojový dokument: Proceedings of the International Conference. 43rd Modern Electrochemical Methods, ISBN 978-80-908947-1-6

Instituce: Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný na vyžádání prostřednictvím repozitáře Akademie věd.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11104/0353836

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-615868


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Konferenční materiály > Příspěvky z konference