Original title: Detekce defektů desek ve výrobě polovodičů
Translated title: Classification of board defects in semiconductor manufacturing
Authors: Jašek, Filip ; Vágner, Martin (referee) ; Dřínovský, Jiří (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2023
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: Artificial intelligence; computer vision; data flow reduction; defect classification; defect detection; faulty chip identification; inference; machine learning; ResNet networks; transfer learning; yield control; detekce defektů; identifikace chybných čipů; inference; klasifikace defektů; počítačové vidění; předtrénované sítě; redukce toku dat; strojové učení; sítě ResNet; Umělá inteligence; výtěžnost výroby

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/213792

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-615085


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses
 Record created 2024-05-25, last modified 2024-05-25


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share