Název: Detekce defektů desek ve výrobě polovodičů
Překlad názvu: Classification of board defects in semiconductor manufacturing
Autoři: Jašek, Filip ; Vágner, Martin (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2023
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: detekce defektů; identifikace chybných čipů; inference; klasifikace defektů; počítačové vidění; předtrénované sítě; redukce toku dat; strojové učení; sítě ResNet; Umělá inteligence; výtěžnost výroby; Artificial intelligence; computer vision; data flow reduction; defect classification; defect detection; faulty chip identification; inference; machine learning; ResNet networks; transfer learning; yield control

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/213792

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-615085


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2024-05-25, naposledy upraven 2024-05-25.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet