Original title: Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Translated title: Basic measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors
Authors: Lang, Radek ; Šotner, Roman (referee) ; Dřínovský, Jiří (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2013
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem. The aim of this bachelor’s thesis is to describe the dynamic parameters of semiconductor devices. The other aim is to build a measuring workplace, on which is possible to carry out measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors. The bachelors’s thesis also solves a design and a production of an universal product, on which measurements are carried out. Individual measurement is automated and individual devices are connected to the product and results are controlled by computer analysis.
Keywords: Agilent VEE; Automatic; Bipolar; Distortion; Dynamic; Hybrid parameters; Measuring; Transistor; Unipolar; Agilent VEE; Automatické; Bipolární; Dynamické; Hybridní parametry; Měření; Tranzistor; Unipolární; Zkreslení

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/72327

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-578269


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses