Original title: Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Translated title: Basic measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors
Authors: Lang, Radek ; Šotner, Roman (referee) ; Dřínovský, Jiří (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2013
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: Agilent VEE; Automatic; Bipolar; Distortion; Dynamic; Hybrid parameters; Measuring; Transistor; Unipolar; Agilent VEE; Automatické; Bipolární; Dynamické; Hybridní parametry; Měření; Tranzistor; Unipolární; Zkreslení

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/72327

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-578269


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses
 Record created 2024-04-02, last modified 2024-04-03


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share