Název: Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením
Překlad názvu: Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením
Autoři: Hakl, Michael ; Fejfar, Antonín (vedoucí práce) ; Ošťádal, Ivan (oponent)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2012
Jazyk: eng
Klíčová slova: fotovodivost; mikroskopie atomárních sil; nanokrystaly; silikonové tenké vrstvy; atomic force microscopy; nanocrystals; photoconductivity; silicon thin films

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/40438

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-486741


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce