Original title: Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením
Translated title: Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením
Authors: Hakl, Michael ; Fejfar, Antonín (advisor) ; Ošťádal, Ivan (referee)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2012
Language: eng
Keywords: atomic force microscopy; nanocrystals; photoconductivity; silicon thin films; fotovodivost; mikroskopie atomárních sil; nanokrystaly; silikonové tenké vrstvy

Institution: Charles University Faculties (theses) (web)
Document availability information: Available in the Charles University Digital Repository.
Original record: http://hdl.handle.net/20.500.11956/40438

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-486741


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Charles University > Charles University Faculties (theses)
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses