Název: Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku
Překlad názvu: Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films
Autoři: Ledinský, Martin
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Zimní odborný a vzdělávací seminář 2010, Rokytnice nad Jizerou (CZ), 2010-02-11 / 2010-02-12
Rok: 2010
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
V tomto článku se budeme zabývat vlivem vlnové délky použitého exitačního laseru na měření a interpretaci Ramanových spekter. We discussed effect of wavelength of used excitation laser on the measurement and interpretation of the Raman spectra.
Klíčová slova: excitation wavelength; Raman spectra
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), LC06040 (CEP), KAN400100701 (CEP), LC510 (CEP), M100100902
Poskytovatel projektu: GA MŠk, GA AV ČR, GA MŠk, AVČR
Zdrojový dokument: Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře, ISBN 978-80-254-8633-7

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0195237

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42569


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference