Název: Microstresses and x-ray diffraction
Autoři: Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Ganev, N. ; Kolařík, K. ; Pala, Z.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Experimental Stress Analysis 2008 /46./, Horní Bečva (CZ), 2008-06-02 / 2008-06-05
Rok: 2008
Jazyk: eng
Abstrakt: The description of an influence of microstresses and macrostresses on diffraction line profiles. Depth distribution of residual stresses in the shot-peened steel obtained by X-ray diffraction.
Klíčová slova: depth distribution; microstress and macrostress; shot peening; x-ray diffraction
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100520 (CEP), GA106/07/0805 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 46th International Scientific Conference Experimental Stress Analysis 2008, ISBN 978-80-248-1774-3

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0194635

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42502


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference