Název: Microstrains and x-ray diffraction
Autoři: Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Kolařík, K.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Experimental Stress Analysis 2009, Sychrov (CZ), 2009-06-08 / 2009-06-11
Rok: 2009
Jazyk: eng
Abstrakt: An attention is paid to the microstrain – its effect on X-ray diffraction and a method to its estimation from a broadening of diffraction lines. Especially, the single line Voigt function method is presented for the estimation of the microstrain and crystallite size from a single diffraction line.
Klíčová slova: microstrain; single line; Voigt function; x-ray diffraction
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100520 (CEP), GA106/07/0805 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of 47th international Scientific conference Experimental Stress Analysis 2009, ISBN 978-80-7372-483-2

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0194601

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42489


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference