Název:
Microstrains and x-ray diffraction
Autoři:
Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Kolařík, K. Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Experimental Stress Analysis 2009, Sychrov (CZ), 2009-06-08 / 2009-06-11
Rok:
2009
Jazyk:
eng
Abstrakt: An attention is paid to the microstrain – its effect on X-ray diffraction and a method to its estimation from a broadening of diffraction lines. Especially, the single line Voigt function method is presented for the estimation of the microstrain and crystallite size from a single diffraction line.
Klíčová slova:
microstrain; single line; Voigt function; x-ray diffraction Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100520 (CEP), GA106/07/0805 (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR Zdrojový dokument: Proceedings of 47th international Scientific conference Experimental Stress Analysis 2009, ISBN 978-80-7372-483-2
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0194601