Název: Testovací nástroj pro platformu FITkit3
Překlad názvu: The FITkit3 Tester
Autoři: Stehlík, Petr ; Strnadel, Josef (oponent) ; Bidlo, Michal (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2020
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce řeší problém testování určité množiny modulů mikrokontroléru ARM Kinetis Cortex-M4 (MK60DN512ZVMD10) na výukové platformě FITkit3 (známé také jako Minerva). Konkrétně se zabývá návrhem testovacího firmwaru v jazyce C pro automatizované testování, návrhem hardwarového modulu pro testování vstupně/výstupních rozhraní platformy s využitím integrovaného obvodu MCP23S17 a návrhem obslužného softwaru s textovým uživatelským rozhraním ve skriptovacím jazyce Python3 pro ovládání testování z PC. Vybranou testovací množinou modulů jsou časovače periodického přerušení (PIT), časovač s nízkou spotřebou (LPTMR) a hodiny reálného času (RTC), dále moduly pro sériový přenos dat skrze UART a SPI rozhraní, reproduktor a GPIO porty. Vytvořené řešení poskytuje komplexní nástroj pro analýzu funkčnosti často využívaných modulů při programování na platformě FITkit3, který samotný proces analýzy téměř celý automatizuje. Hlavním přínosem této práce je zejména usnadnění testování a rychlé odhalení chyb na velkém počtu výukových kitů. This work solves the problem of testing a certain set of ARM Kinetis Cortex-M4 \newline (MK60DN512ZVMD10) microcontroller modules on the FITkit3 learning platform (also known as Minerva). Specifically, it deals with the design of test firmware in the C programming language for automated testing, the design of a hardware module for testing platform input/output interfaces using the MCP23S17 integrated circuit and the design of a software with text-based user interface in Python3 for the testing control from a PC. The selected test set of modules are Periodic interrupt timers (PIT), Low-power timer (LPTMR) and Real time clock (RTC), further modules for serial data transmission via UART and SPI interfaces, speaker and GPIO ports. The created solution provides a comprehensive tool for analysing the functionality of frequently used modules on FITkit3, which automates the analysis process almost completely. The main benefit of this work is the facilitation of testing and a rapid detection of errors in a large number of kits.
Klíčová slova: ARM Cortex-M4; automatizované testovaní; FITkit3; Kinetis K60; mikrokontrolér; testování; vestavěný systém; ARM Cortex-M4; automated testing; embedded system; FITkit3; Kinetis K60; microcontroller; testing

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/191576

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-416368


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce