Název: Spectrum Analysis Of Damaged Led Light Sources
Autoři: Janík, Daniel
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: Permanent damage to LED chips, often high temperature is one of the common problems. The article compares the spectrum of LED retrofits before and after permanent high temperature damage. Several different samples tested were damaged by the same defined temperature during operation. The radiated spectrum was measured before and after exposure to the temperature and subsequently evaluated.
Klíčová slova: LED light sources; LED retrofit; permanent damage
Zdrojový dokument: Proceedings of the 25st Conference STUDENT EEICT 2019, ISBN 978-80-214-5735-5

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/186762

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-414664


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference