Název: Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
Překlad názvu: Design of a suitable length standard for nanometology at the CMI Brno and CEITEC Brno
Autoři: Češek, Jakub ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2019
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: akreditace; artefakt; Etalon; ISO 10360-2:2009; ISO/IEC 17025:2017.; metrologická návaznost; nano-CMM; nano-CT; Rigaku nano3DX; SIOS NMM-1; accreditation; artifact; ISO 10360-2:2009; ISO/IEC 17025:2017.; metrological traceability; nano-CMM; nano-CT; Rigaku nano3DX; SIOS NMM-1; Standard

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/179117

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-402562


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2019-08-26, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet