Název:
Optické vlastnosti tenkých vrstev měřené metodou PDS
Překlad názvu:
Optical properties of thin films measured by PDS
Autoři:
Remeš, Zdeněk Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Česká fotovoltaická konference /3./, Brno (CZ), 2008-11-03 / 2008-11-05
Rok:
2008
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Popis spektrometru PDS s aplikacemi pro meření optické absorpce v tenkých vodivých oxidech a slunečních článcích.Description of the photothermal deflection (PDS) spectrometer used in the Institute of Physics of the ASCR. Applicatons include the optical absorption in thin conductive oxides and thin films solar cells.
Klíčová slova:
PDS; solar cell; TCO Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), LC510 (CEP), KJB100100623 (CEP), 509178, 38885, 19670 Poskytovatel projektu: GA MŠk, GA AV ČR Zdrojový dokument: Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference, ISBN 978-80-254-3528-1
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0170811