Název: Surface Point Defects in Silicon Related Nanopowders Produced by Pulsed Laser Ablation: IR Evidence of Peroxy Radical SiOO(.)
Překlad názvu: Povrchové bodové defekty v nanopráškách obsahující křemík připravené pomocí pulsní laserové ablace: IR důkaz peroxy radikálu SiOO(.)
Autoři: Dřínek, Vladislav ; Vacek, Karel
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Conference Nano 06, Brno (CZ), 2006-11-13 / 2006-11-15
Rok: 2008
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: point defect; pulser laser ablation; silicon dioxide
Číslo projektu: CEZ:AV0Z4072921 (CEP), IAA400720616 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings, ISBN 80-214-3331-0

Instituce: Ústav chemických procesů AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0163524

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-39112


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav chemických procesů
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2011-07-01, naposledy upraven 2024-01-26.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet