Název: Analysis of Electron Beam Degraded poly[methyl(phenyl)silylene]
Překlad názvu: Analýza poly[methyl(phenyl)silylene] degradovaného elektronovým svazkem
Autoři: Horák, Petr ; Schauer, Petr
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague (CZ), 2007-06-17 / 2007-06-21
Rok: 2007
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
Polysilanes (PSi) are a broad class of organic materials whose basic building block is a chain built up of silicon. The susceptibility to material degradation is a characteristic property of PSi. PSi are degradable for example by ultraviolet radiation or by electron beam. The degradation of the material decreases intensity of luminescence. Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was selected as a typical representative of PSi. Polysilany (Psi) patří mezi širokou skupinu organických materiálů jejichž základním stavebním blokem je řetězec sestavený z křemíku. Náchylnost k degradaci je charakteristická vlastnost PSi. PSi jsou degradovatelné například ultrafialovým zářením nebo elektronovým svazkem. Degradace materiálu snižuje intensitu luminiscence. Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) byl vybrán jako typický reprezentant PSi.
Klíčová slova: cathodoluminescence; electron beam degradation; poly[methyl(phenyl)silylene]; polysilanes; PSi
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), IAA100100622 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy, ISBN 978-80-239-9397-4

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0152870

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-37988


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference