Název:
Analysis of Electron Beam Degraded poly[methyl(phenyl)silylene]
Překlad názvu:
Analýza poly[methyl(phenyl)silylene] degradovaného elektronovým svazkem
Autoři:
Horák, Petr ; Schauer, Petr Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague (CZ), 2007-06-17 / 2007-06-21
Rok:
2007
Jazyk:
eng
Abstrakt: [eng][cze] Polysilanes (PSi) are a broad class of organic materials whose basic building block is a chain built up of silicon. The susceptibility to material degradation is a characteristic property of PSi. PSi are degradable for example by ultraviolet radiation or by electron beam. The degradation of the material decreases intensity of luminescence. Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was selected as a typical representative of PSi.Polysilany (Psi) patří mezi širokou skupinu organických materiálů jejichž základním stavebním blokem je řetězec sestavený z křemíku. Náchylnost k degradaci je charakteristická vlastnost PSi. PSi jsou degradovatelné například ultrafialovým zářením nebo elektronovým svazkem. Degradace materiálu snižuje intensitu luminiscence. Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) byl vybrán jako typický reprezentant PSi.
Klíčová slova:
cathodoluminescence; electron beam degradation; poly[methyl(phenyl)silylene]; polysilanes; PSi Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), IAA100100622 (CEP) Poskytovatel projektu: GA AV ČR Zdrojový dokument: Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy, ISBN 978-80-239-9397-4
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0152870