Název: Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie
Překlad názvu: Techniques of thin layers deposition and characterization, their analysis using scanning electron microscopy
Autoři: Kiška, Roman ; Moravčík, Igor (oponent) ; Čupera, Jan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2018
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: adheze; AFM; CVD; drsnost; nanotvrdost; PVD; SEM; Youngův modul pružnosti; adhesion; AFM; CVD; nanohardness; PVD; roughness; SEM; Young’s modulus of elasticity

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/82337

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-378421


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2018-06-19, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet