|
|
Stanovení přesnosti měření souřadnicového měřicího stroje Zeiss UPMC Carat
Kiška, Roman ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Cílem této diplomové práce je vytvoření komplexní studie přesnosti měření souřadnicového měřícího stroje (dále jen CMM) Zeiss UPMC 850 Carat S-ACC (dále jen Zeiss Carat) pro potřeby národního metrologického orgánu ČMI OI Brno v souladu s normou ČSN EN ISO/IEC 17025 a navazujících systémových norem řady ČSN EN ISO 10360. Součástí je také vytvoření návodu pro výpočet nejistoty měření, který poslouží v praxi akreditované kalibrační laboratoře. První část práce je věnována popisu současného stavu poznání a vymezení základních pojmů v oblasti metrologie a přesného měření na CMM. V druhé části je popsán měřící stroj Zeiss Carat, jsou zde identifikováni jednotliví přispěvatelé k výsledné nejistotě měření a je zde také definována metodika pro jejich kvantifikaci. Poslední část se zabývá vyhodnocením dat z kalibrace a výpočtem rozšířené nejistoty měření přístroje Zeiss Carat, která slouží pro kvantifikaci jeho přesnosti.
|
|
|
Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie
Kiška, Roman ; Moravčík, Igor (oponent) ; Čupera, Jan (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodami nanášení tenkých vrstev, a to zejména metodou PVD a CVD. Součástí práce byla i experimentální část, kde byly nedeponovány dva vzorky metodou magnetronového naprašování a nanášením z plynné fáze. Cílem práce bylo porovnat jejich materiálové vlastnosti se vzorky průmyslově vyrobenými, měřena byla jejich tvrdost, adheze, drsnost a tloušťka. Teoretická část se zabývá chemickou a fyzikální podstatou různých metod depozice tenkých vrstev a popisem materiálových vlastností, které jsou u tenkých povlaků podstatné. Praktická část zahrnuje popis depozičních procesů a použitých charakterizačních technik.
|
|
|
Stanovení přesnosti měření souřadnicového měřicího stroje Zeiss UPMC Carat
Kiška, Roman ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Cílem této diplomové práce je vytvoření komplexní studie přesnosti měření souřadnicového měřícího stroje (dále jen CMM) Zeiss UPMC 850 Carat S-ACC (dále jen Zeiss Carat) pro potřeby národního metrologického orgánu ČMI OI Brno v souladu s normou ČSN EN ISO/IEC 17025 a navazujících systémových norem řady ČSN EN ISO 10360. Součástí je také vytvoření návodu pro výpočet nejistoty měření, který poslouží v praxi akreditované kalibrační laboratoře. První část práce je věnována popisu současného stavu poznání a vymezení základních pojmů v oblasti metrologie a přesného měření na CMM. V druhé části je popsán měřící stroj Zeiss Carat, jsou zde identifikováni jednotliví přispěvatelé k výsledné nejistotě měření a je zde také definována metodika pro jejich kvantifikaci. Poslední část se zabývá vyhodnocením dat z kalibrace a výpočtem rozšířené nejistoty měření přístroje Zeiss Carat, která slouží pro kvantifikaci jeho přesnosti.
|
|
|
Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie
Kiška, Roman ; Moravčík, Igor (oponent) ; Čupera, Jan (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodami nanášení tenkých vrstev, a to zejména metodou PVD a CVD. Součástí práce byla i experimentální část, kde byly nedeponovány dva vzorky metodou magnetronového naprašování a nanášením z plynné fáze. Cílem práce bylo porovnat jejich materiálové vlastnosti se vzorky průmyslově vyrobenými, měřena byla jejich tvrdost, adheze, drsnost a tloušťka. Teoretická část se zabývá chemickou a fyzikální podstatou různých metod depozice tenkých vrstev a popisem materiálových vlastností, které jsou u tenkých povlaků podstatné. Praktická část zahrnuje popis depozičních procesů a použitých charakterizačních technik.
|
host ::
RSS.