Název: Přesná měření vlastností polovodičových součástek
Překlad názvu: Precise measurement of semiconductors
Autoři: Smělík, Martin ; Šebesta, Jiří (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2009
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce bylo navrhnout laboratorní pracoviště pro přesná měření stálosti výstupních parametrů polovodičových součástek. Součástí je také termostat, který udržuje konstantní teplotu proměřované součástky. Celý laboratorní přípravek je ovládán pomocí počítače přes rozhraní USB. Na počítači je vytvořen program v ovládacím prostředí Agilent VEE pro automatizované měření těchto polovodičových součástek. The aim of this bachelor´s thesis was design a laboratory workplace for precise measurement of the stability output parameters of semiconductors. The thermostat is also part of this workplace. The thermostat is maintaining a constant temperature measured semiconductor. The entire laboratory preparation is controlled by a computer via USB. The program is created in control environment Agilent VEE for automatic measurement that semiconductor components.
Klíčová slova: Agilent VEE; automatické měření; mikrokontrolér; polovodičová součástka; termostat; USB; Agilent VEE; automatic measurement; microcontroller; semiconductor component; thermostat; USB

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/2935

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-226258


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce