Název: Electron probe microanalysis of nonconductive bulk samples
Autoři: Jurek, Karel ; Gedeon, O.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: EMAS /4./, Třešť (CZ), 2000-05-17 / 2000-05-20
Rok: 2000
Jazyk: eng
Abstrakt: Electron probe x-ray microanalysis of nonconductiv samples can be distorted b electrical field formation under the grounded surface. This posibility is demonstarted by Monte carlo modeling.
Klíčová slova: electric charging; electron probe; x-ray microanalysis
Číslo projektu: CEZ:AV0Z1010914 (CEP)
Zdrojový dokument: Electron probe microanalysis today practical aspects, ISBN 80-01-02176-9

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0031432

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-21841


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference