|
| |
|
|
Jan Patočka o zjevování jako takovém: fenomenologie nebo metafyzika?
Novotný, Karel
Je tematizace zjevování jako takového fenomenologií nebo překračuje hranice, jimiž se fenomenologie původně chtěla od metafyziky oddělit, aby se vůči ní vymezila? Patočka se ve svém rozvrhu a-subjektivní fenomenologie pohybuje na pomezí fenomenologie jako nauky o zjevování jako takovém a fenomenologické filosofie, která se ptá po ontologickém ukotvení tématu a vystavuje se tím do blízkosti metafyziky.
|
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
Využití opticky zachycené sondy pro studium velmi slabých interakcí na molekulární úrovni - přehled
Zemánek, Pavel ; Jonáš, Alexandr
Dielektrická částice mikrometrových rozměrů, která je zachycena v optické pasti, může být využita jako sonda pro měření sil v rozsahu od jednotek pikonewtonů po stovky pikonewtonů. Pokud je tedy na takovou sondu navázán biologický systém (např. molekula DNA, myosinu nebo kinesinu, buněčná membrána), jeho mechanické a dynamické vlastnosti mohou být studovány s neobyčejnou přesností během interakce s okolním prostředím. Tento článek shrnuje základní principy laserového zachytávání objektů a měření velmi slabých sil a ilustruje na několika příkladech jejich obrovský potenciál při neinvazivním zkoumání dynamiky molekulárních systémů
|
|
| |
|
| |
|
|
Emisivita a absorptivita tepelného záření povrchů konstrukčních kovů za velmi nízkých teplot
Musilová, Věra ; Hanzelka, Pavel ; Králík, Tomáš ; Srnka, Aleš
V práci je uvedeno porovnání absorptivit tepelného záření pro povrchy několika kovových konstrukčních materiálů užívaných v kryogenice. Měřili jsme teplo absorbované rovinnými povrchy Cu, Al a nerezové oceli chlazenými na teplotu 5 až 10 K. Zdrojem tepla byl černý povrch umístěný paralelně v malé vzdálenosti od testovaného povrchu. Výsledkem našich měření jsou závislosti absorptivity na teplotě záření v rozsahu teplot 30 K až 140 K. Závislosti jsou presentovány pro různé úpravy povrchů kovů, např. chemické a mechanické leštění, žíhání a ukazují vliv těchto úprav na přenos tepla zářením za velmi nízkých teplot
|
|
|
Zařízení pro měření tepelné emisivity při nízkých teplotách
Králík, Tomáš ; Hanzelka, Pavel ; Musilová, Věra ; Srnka, Aleš
V popsaném zařízení se měří tepelná emisivita nebo absorptivita vzorku substitucí toku tepla zářením mezi dvěma rovnoběžnými povrchy tepelným výkonem topení. Je možné provádět rychlá měření vzájemné emisivity v rozsahu teplot zářícího povrchu 25 K- 150 K. Absorbující povrch má teplotu 5 K - 10 K, je-li k chlazení použito LHe. Dosahovaná citlivost měření je 1mK pro teplotu nebo 0,1 mikroW pro tepelný výkon. Celkový průměr zařízení je 50 mm a k chlazení lze použít komerčně dostupnou Dewarovu nádobu. Vzorek má tvar disku o průměru 40 mm o tloušťce 1 mm s jednou měřenou stranou. Lze měřit emisivitu a její teplotní závislost pro různé úpravy povrchů bezprostředně před jejich použitím v kryogenním zařízení
|
host ::
RSS.