Název: Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures
Překlad názvu: Zařízení pro měření tepelné emisivity při nízkých teplotách
Autoři: Králík, Tomáš ; Hanzelka, Pavel ; Musilová, Věra ; Srnka, Aleš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Cryogenics 2004 /8./ IIR International Conference, Praha (CZ), 2004-04-27 / 2004-04-30
Rok: 2004
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
In the described device, the thermal emissivity or absorptivity of the sample is measured by substitution of the radiative heat flow between two parallel surfaces by thermal output of a heater. Fast measurements of the mutual emissivity for the range of the temperature of the radiating surface 25 K - 150 K are possible. The absorbing surface has a temperature between 5 K and 10 K when LHe is used as cryoliquid. The desired measurement sensitivity is 1 mK for temperature and 0.1 mikroW for heat power, respectively. The diameter of the whole device is 50 mm and so it is possible to use a commercial Dewar can for the cooling. The form of the sample is a circular plate 40 mm in diameter and 1 mm in thickness with one tested side. The emissivity and its temperature dependence for various surface treatments can be checked immediately before application in a cryogenic system V popsaném zařízení se měří tepelná emisivita nebo absorptivita vzorku substitucí toku tepla zářením mezi dvěma rovnoběžnými povrchy tepelným výkonem topení. Je možné provádět rychlá měření vzájemné emisivity v rozsahu teplot zářícího povrchu 25 K- 150 K. Absorbující povrch má teplotu 5 K - 10 K, je-li k chlazení použito LHe. Dosahovaná citlivost měření je 1mK pro teplotu nebo 0,1 mikroW pro tepelný výkon. Celkový průměr zařízení je 50 mm a k chlazení lze použít komerčně dostupnou Dewarovu nádobu. Vzorek má tvar disku o průměru 40 mm o tloušťce 1 mm s jednou měřenou stranou. Lze měřit emisivitu a její teplotní závislost pro různé úpravy povrchů bezprostředně před jejich použitím v kryogenním zařízení
Klíčová slova: cryogenic system; material surfaces; temperature dependency
Číslo projektu: IBS2065109 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 8th Cryogenics 2004 IIR international conference, ISBN 2-913149-33-2, ISSN 0151-1637

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0007523

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-19258


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference