Název:
Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku
Překlad názvu:
Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films
Autoři:
Ledinský, Martin Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Zimní odborný a vzdělávací seminář 2010, Rokytnice nad Jizerou (CZ), 2010-02-11 / 2010-02-12
Rok:
2010
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] V tomto článku se budeme zabývat vlivem vlnové délky použitého exitačního laseru na měření a interpretaci Ramanových spekter.We discussed effect of wavelength of used excitation laser on the measurement and interpretation of the Raman spectra.
Klíčová slova:
excitation wavelength; Raman spectra Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), LC06040 (CEP), KAN400100701 (CEP), LC510 (CEP), M100100902 Poskytovatel projektu: GA MŠk, GA AV ČR, GA MŠk, AVČR Zdrojový dokument: Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře, ISBN 978-80-254-8633-7
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0195237