Název: Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu – etapa 1
Překlad názvu: Secure erasing memory chips using electromagnetic pulse - phase 1
Autoři: Fitl, Přemysl ; Vrňata, M. ; Fišer, L. ; Novotný, Michal ; Scholtz, V. ; Vlček, J. ; Tomeček, D.
Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok: 2018
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Předmětem smluvního výzkumu bylo provedení rešerše principu funkce pamětí typu flash aktuálně dostupných na trhu. Souhrnná výzkumná zpráva popisuje technologický pokrok v jejich vývoji, možnosti vyčítání uložených/smazaných dat dostupnými laboratorními technikami a interakci těchto pamětí s elektromagnetickým pulzem.\nVýstup byl předán zástupcům NÚKIB dne 29.3.2018. Projekt byl splněn, za vypracování této zprávy byla fakturována sjednaná částka.\n\n The subject of this contractual research was to perform study of technologies and principles of flash memories currently available on the market. The research report focuses on technological advancements in their development, the readability of stored / deleted data by available laboratory techniques, and the interaction of these memories with the electromagnetic pulse.\nThe outcome was handed over to NUKIB representatives on 29 March 2018. \nThe project was fulfilled, the agreed amount was invoiced for this report.\n\n\n
Klíčová slova: electromagnetic pulse; flash memory; memory erasing
Číslo projektu: 216/2017-NÚKIB-I/410
Poskytovatel projektu: NÚKIB

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0291641

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-391508


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Zprávy > Výzkumné zprávy