Název: Měření elektrických vlastností křemíkových nanostruktur s použitím mikroskopie atomárních sil
Překlad názvu: The measurement of electrical properties of silicon nanostructures with use of atomic force microscopy
Autoři: Hývl, M. ; Fejfar, Antonín ; Vetushka, Aliaksi
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Studentská vědecká konference fyziky pevných látek /3./, Krkonoše (CZ), 2013-06-28 / 2013-07-02
Rok: 2013
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Mikroskop atomárních sil (AFM) je mimo jiné možné použít k měření lokálních změn povrchového potenciálu či lokální vodivosti. Právě tyto vlastnosti jsou obzvláště zajímavé při studiu křemíkových struktur určených k fotovoltaickým aplikacím, jako například polykrystalický křemík či křemíkové dráty. V článku budou popsány jednotlivé měřící metody a ukázány výsledky těchto měření. Atomic force microscopy (AFM) can be used to measure local surface potential or local conductivity. These properties are very useful to characterize photovoltaic silicon nanostructures, such as polycrystalline silicon or silicon nanorods. In this article, we demonstrate these methods and show the results of our measurements.
Klíčová slova: AFM; photovoltaics; polycrystalline silicon; silicon nanowires
Číslo projektu: LM2011026 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA MŠk
Zdrojový dokument: Studentská vědecká konference fyziky pevných látek /3./, ISBN 978-80-01-05344-7

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0231618

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-170511


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference