|
|
Vyhlazovací box pro 3D výtisky FDM 3D tiskáren
Dubský, Jan ; Čudek, Pavel (oponent) ; Bayer, Robert (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem zařízení, které by sloužilo k vyhlazování 3D výtisků z různých materiálů FDM 3D tiskáren. Vysvětluje princip 3D tisku a popi-suje technologie, které jsou v 3D tisku využívány. V práci se nachází přehled užívaných tiskových materiálů a některých vybraných organických rozpouštědel. Popisuje metody vyhlazování v parách a vyhlazování aerosolem, které mohou být použity pro vyhlazování povrchu 3D výtisků. Metoda vyhlazování v parách byla experimentálně vyzkoušena pro rozpouštědla: aceton, dichlormethan, chloroform a tetrahydrofuran. Metoda vyhlazování aerosolem užívala roztoku acetonu a dichlormethanu v poměru 1:1. Obě metody byly testovány na vzorcích z materiálů PLA, ABS, PETG a SBS. Práce popisuje návrh vyhlazovacího zařízení na 3D výtisky s ohledem na chemickou kompatibilitu užitých konstrukčních materiálů a snadnou obsluhu zařízení.
|
|
|
Návrh a konstrukce jednoduchého hudebního syntezátoru
Ondryáš, Radek ; Čudek, Pavel (oponent) ; Čech, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá tématem hudebních syntezátorů. Práce poskytuje obecný popis syntezátorů, jejich historie, typů a důležitých součástek. Další částí práce je popis zvukového čipu Texas Instruments SN76477, jeho funkcionality a způsoby ovládání. Hlavní částí této práce je kolem čipu SN76477 navrhnout a realizovat syntezátor a vyrobit pro něj krabici z laserem řezané překližky
|
|
|
Polovodičové struktury, metoda nábojového sběru
Golda, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Práce pojednává o studiu struktur polovodivého křemíku. Popisuje vlastnosti tohoto prvku a vytvoření polovodiče typu P a N, dále se zabývá typy poruch krystalické mřížky. Zabývá se popisem metod sledování poruch v polovodiči, stanovení vlastností polovodičů tj. metodou EBIC, EBIV a CC, které jsou využívány k analýze polovodičových součástek a materiálů. Zjišťování vlastností křemíkových součástek probíhá pomoci generace nosičů náboje ve vzorku, vloženého do komory rastrovacího elektronového mikroskopu dopadajícími vyskoenergiovými elektrony a následným sběrem naindukovaného náboje na PN přechodu. Pomocí dat získaných metodou EBIC a CC byly vyhodnoceny difúzní délka a doba života elektronů.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro VP SEM
Račanský, David ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
V první části této práce je uvedeno teoretické seznámení se základy rastrovací elektronové mikroskopie, pracující v oblastí vyšších tlaků, neboli VP SEM, včetně detekce sekundárních elektronů (SE) s využitím scintilačního detektoru. Praktická část je zaměřena na predikci, proměření a následném stanovení optimálního nastavení pracovních podmínek ve vakuovém systému elektrod scintilačního detektoru (SD), s důrazem na konfigurační nastavení průměrů otvorů v clonkách C1 a C2. Druhým úkolem bylo ověřit vliv změny pracovní vzdálenosti mezi vzorkem a detektorem a následně doporučit optimální nastavení pro další práci.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Odehnal, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Práce obsahuje teoretické poznatky z oblasti rastrovací elektronové mikroskopie. Je popsána konstrukce, princip činnosti a signály vzniklé interakcemi mezi svazkem primárních elektronů a vzorkem. Dále je vysvětlena nejrozšířenější metoda detekce sekundárních elektronů pomocí scintilačního detektoru. Další kapitoly se věnují jednomu z posledních vývojových stádií rastrovací elektronové mikroskopie, a to environmentální rastrovací elektronovou mikroskopií. Praktická část se zabývá vyhodnocováním závislostí velikosti signálu detekovaného scintilačním detektorem na tlaku vodních par v komoře vzorku. Je zde posuzována vhodná velikost napětí přiložených na elektrody scintilačního detektoru pro optimalizování detekce.
|
|
|
Elektrické vlastnosti pokožky
Hellová, Miriam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vlastnostmi lidské kůže, možnostmi měření její impedance a návrhem vhodné elektrody pro měření. Pro modelování byly použity různé náhradní modely impedance kůže a popsány jevy vznikající na rozhraní mokrá elektroda – elektrolyt, které významným způsobem měření impedance ovlivňují. Byl proveden popis funkce suché planární elektrody a její návrh pro ověřovací měření. Kontrolní měření bylo provedeno s pomocí vývojového kitu EVAL-AD5933EBZ ve frekvenčním rozsahu 5 kHz až 100 kHz na třech různých místech lidského těla a výsledky byly zobrazeny v grafech ve formě absolutní hodnoty impedance a její fáze. Správnost naměřených hodnot byla ověřena srovnáním s výsledky jiné práce, používající jiný typ elektrody. Hlavním cílem bylo ověření možnosti použít geometrie suché planární elektrody v kombinaci s dostupným vývojovým kitem pro jednoduché diagnostické aplikace.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku
Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí.
|
|
|
Metoda napěťového kontrastu v EREM
Krňávek, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na environmentální rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje funkci mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak vznik zpětně odražených a sekundárních elektronů a metodu napěťového kontrastu. Praktická část se zabývá problematikou napěťového kontrastu pro sledování rozložení elektrických potenciálů na površích polovodičových součástek a stanovuje vhodné pracovní podmínky pro pozorování napěťového kontrasu pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů.
|
|
|
Porovnání mikroskopických diagnostických metod
Veselý, Jakub ; Tihlaříková, Eva (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá popisem a porovnáním diagnostických metod transmisní elektronové mikroskopie, rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. V úvodu práce je uveden popis jednotlivých diagnostických metod. Následuje experimentální část zabývající se diagnostikou vzorku feritické chromové oceli metodami rastrovací elektronové mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, transmisní elektronové mikroskopie a vyhodnocením a interpretací naměřených výsledků. V závěru práce je uvedeno srovnání, výhody a nevýhody použitých diagnostických metod.
|
|
|
Analýza bateriových hmot metodami EDS
Vídeňský, Ondřej ; Jaššo, Kamil (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá analýzou bateriových hmot za použití rentgenové spektrální mikroanalýzy. Měření probíhalo na dvou elektronových rastrovacích mikroskopech vybavenými energiově disperzními rentgenovými spektroskopy. Pro pozorování byly standardní metodou připraveny vhodné vzorky, na kterých byla následně provedena rentgenová mikroanalýza za různých pracovních podmínek. Vyhodnocování spekter bylo prováděno dvěma programy, a nakonec bylo pro každé měření sledována velikost chyb.
|
host ::
RSS.