|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku
Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí.
|
|
|
Metody stabilizace frekvence polovodičových laserů
Kozelský, Adam ; Stehlík, Jiří (oponent) ; Mikel, Břetislav (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá problematikou frekvenční stabilizace polovodičových laserových diod DFB. Mezi hlavní vlivy, které ovlivňují stabilitu frekvence, lze zahrnout stabilitu teploty čipu laserové diody, stabilitu a šum injekčního proudu a zpětné odrazy. V práci jsou jednotlivé vlivy vysvětleny a je popsán a realizován způsob jejich řešení. V další části práce je teoretický popis a srovnání externích metod stabilizace frekvence. Z těchto metod je vybrána metoda, která byla prakticky realizována pro laserové diody s vlnovou délkou 760 a 1540 nm. Využitá metoda stabilizace frekvence je založena na lineární absorpci na spektrálních čárách plynu. V poslední části jsou pak uvedeny výsledky, které byly změřeny a je uvedeno srovnání dosažené úrovně stability i pro jiné metody.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku
Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí.
|
|
|
Metody stabilizace frekvence polovodičových laserů
Kozelský, Adam ; Stehlík, Jiří (oponent) ; Mikel, Břetislav (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá problematikou frekvenční stabilizace polovodičových laserových diod DFB. Mezi hlavní vlivy, které ovlivňují stabilitu frekvence, lze zahrnout stabilitu teploty čipu laserové diody, stabilitu a šum injekčního proudu a zpětné odrazy. V práci jsou jednotlivé vlivy vysvětleny a je popsán a realizován způsob jejich řešení. V další části práce je teoretický popis a srovnání externích metod stabilizace frekvence. Z těchto metod je vybrána metoda, která byla prakticky realizována pro laserové diody s vlnovou délkou 760 a 1540 nm. Využitá metoda stabilizace frekvence je založena na lineární absorpci na spektrálních čárách plynu. V poslední části jsou pak uvedeny výsledky, které byly změřeny a je uvedeno srovnání dosažené úrovně stability i pro jiné metody.
|
host ::
RSS.