|
|
Modelování diferenčního proudového zesilovače
Polák, Josef ; Šotner, Roman (oponent) ; Jeřábek, Jan (vedoucí práce)
Cílem moji diplomové práce bylo programování měřících systémů pro stejnosměrná, střídavá a impedanční měření. Každý měřící systém měří vybrané charakteristiky proudového zesilovače s řiditelným zesílením DACA_N. Ovládací programy jsem vytvořil v programu Agilent Vee Pro 9.2. Naměřená data jsou ukládána do souborů spustitelných v MS Excel pro jejich další zpracování.S vytvořenými měřícími programy jsem provedl měření osmi proudových zesilovačů. Výsledky jednotlivých měření jsem zpracoval do grafů a vzájemně porovnával obvodové charakteristiky jednotlivých zesilovačů. Dále je zde popsáno ovládání a připojení proudového zesilovače a jeho konstrukce. V závěru diplomové práce jsou uvedeny zesilovače s nejhoršími a nejlepšími měřenými obvodovými vlastnostmi. Uvedené naměřené hodnoty ukazují, že zesilovač DACA_N s drobnými odchylkami pracuje podle teoretických předpokladů a mnou navržené měřící systémy pracují bez problému.
|
|
|
Automatizace měření odchylek a stability generátorů
Čermák, Jan ; Nováková Zachovalová, Věra (oponent) ; Havlíková, Marie (vedoucí práce)
Tato diplomová práce na téma ,,Automatizace měření odchylek a stability generátorů‘‘ obsahuje popis metody měření rozdílu časových stupnic. Pomocí této metody se provádí výpočet parametrů oscilátoru, který je v této práci také popsán. Parametry oscilátoru se rozumí náběh a stabilita. Popsán je i postup při výpočtu nejistot a jejich prezentace ve výsledném kalibračním listu. Dále je v práci popsáno praktické měření s touto metodou v Českém metrologickém institutu v Brně. Měření parametrů oscilátorů pomocí metody měření rozdílu časových stupnic se provádělo automatizovaně pomocí výpočetní techniky. Tato práce se zabývá i tvorbou a vývojem nového software a tím i automatizací celé úlohy.
|
|
|
Automatizovaný měřicí testovací systém
Zálešák, Marek ; Fiedler, Petr (oponent) ; Štohl, Radek (vedoucí práce)
V následujícím textu je krátce popsán program LabVIEW od společnosti National Instruments a sběrnice GPIB. Hlavní část tohoto textu se zabývá návrhem a popisem softwaru vytvořeného pomocí programu LabVIEW pro automatizovaný měřicí testovací systém. V závěru této práce se nachází také ukázky a výsledky kontrolních měření provedených vzniklým měřicím systémem.
|
|
|
Systém Hefaistos
Mancl, Vlastimil ; Beneš, Petr (oponent) ; Pikula, Stanislav (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá popisem měřicího systému Hefaistos. Je zde popsán princip tohoto systému, který je plně automatizovaný a modulární. Účelem systému je měření frekvenčních teplotních závislostí materiálů. Hlavní součástí systému je řídicí aplikace vytvořená ve vývojovém prostředí LabVIEW. Další nedílnou součástí jsou impedanční analyzátory pro měření frekvenčních charakteristik a teplotní komory pro ohřev měřené komponenty. Řídicí aplikace zajišťuje synchronizaci hardwaru, čímž spojuje impedanční analyzátor s teplotní komorou, a tvoří tak měřicí systém Hefaistos. Modularita systému znamená, že je v rámci jedné řídicí aplikace možnost volby různých kombinací měřicích přístrojů. Na výběr jsou impedanční analyzátory Agilent 4294A, Wayne Kerr 6520B a HIOKI 3532 LCR Hi-Tester a teplotní komory AOIP GEMINI 700 LRI a AOIP HYPERION. Část práce se věnuje popisu přístrojů a jejich možnostem programování. Možnosti systému Hefaistos jsou demonstrovány na výsledcích ukázkového měření.
|
|
|
Poloautomatické pracoviště pro měření vlastností elektronických obvodů
Rozboud, Jakub ; Jeřábek, Jan (oponent) ; Dvořák, Jan (vedoucí práce)
Bakalářská práce se věnuje výběru řešení a následné realizaci poloautomatizovaného měřícího pracoviště pro měření aktivních prvků v obvodu FGIC44. Součástí práce je základní rozbor stavby a zapojení obvodu FGIC44. Vzdálené ovládání a automatizace přístrojů byla realizována pomocí vývojového prostředí Keysight VEE Pro. Pro záznam a zpracování naměřených dat byl využit Microsoft excel. Pomocí sestaveného pracoviště byly proměřeny 4 dodané čipy a jejich výsledky zahrnuty v přílohách této práce.
|
|
|
Systém Hefaistos
Mancl, Vlastimil ; Beneš, Petr (oponent) ; Pikula, Stanislav (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá popisem měřicího systému Hefaistos. Je zde popsán princip tohoto systému, který je plně automatizovaný a modulární. Účelem systému je měření frekvenčních teplotních závislostí materiálů. Hlavní součástí systému je řídicí aplikace vytvořená ve vývojovém prostředí LabVIEW. Další nedílnou součástí jsou impedanční analyzátory pro měření frekvenčních charakteristik a teplotní komory pro ohřev měřené komponenty. Řídicí aplikace zajišťuje synchronizaci hardwaru, čímž spojuje impedanční analyzátor s teplotní komorou, a tvoří tak měřicí systém Hefaistos. Modularita systému znamená, že je v rámci jedné řídicí aplikace možnost volby různých kombinací měřicích přístrojů. Na výběr jsou impedanční analyzátory Agilent 4294A, Wayne Kerr 6520B a HIOKI 3532 LCR Hi-Tester a teplotní komory AOIP GEMINI 700 LRI a AOIP HYPERION. Část práce se věnuje popisu přístrojů a jejich možnostem programování. Možnosti systému Hefaistos jsou demonstrovány na výsledcích ukázkového měření.
|
|
|
Tests of Semiconductor Detectors in Prague Laboratory
Krásny, Peter ; Kodyš, Peter (vedoucí práce) ; Carli, Ina (oponent)
Tato bakalářská práce je zaměřená na využití křemíkových po- lovodičových detektorů v experimentu ATLAS a na automatizaci ochlazo- vacích a ohřívacích procesů po dobu testování detektorů při zvolené tep- lotě. Testy jsou vykonané v prostředí mrazicího boxu a je nutné, aby po dobu celého testu zůstalo místo, kde je detektor umístěný, suché. Toto je zabezpečené monitorováním teploty a relativní vlhkosti vzduchu daného pro- středí pomocí přístroje Interlock se senzory a automatickým výpočtem tep- loty rosného bodu bez využití dusíku, který se běžně využívá v podobných testech. Ochlazovací i ohřívací procesy jsou ve fázi přípravy na úplnou au- tomatizaci, co bude minimalizovat manuální manipulaci, která je nutná na obsluhu testů. Tím bude zajištěný plynulý a bezpečný průběh daných testů. 1
|
|
|
Automatický přepínač rozsahů pro AC-DC etalon Fluke 792A
Trojan, Martin ; Šíra,, Martin (oponent) ; Havlíková, Marie (vedoucí práce)
Hlavním tématem této diplomové práce je návrh a realizace mechanického spojení řídící jednotky k automatickému přepínači rozsahů AC-DC etalonu Fluke 792A. Tato diplomová práce obsahuje teoretický rozbor AC-DC etalonu Fluke 792A a krokových motorů. Na rozbor krokových motorů navazuje výběr vhodného pohonu. Následuje popis řídicí jednotky, použitého mikrokontroleru a popis sběrnice GPIB. Poslední část se zabývá návrhem mechanického spojovacího dílu a výběru vhodných senzorů pro snímání aktuální polohy clonky.
|
|
|
Tests of Semiconductor Detectors in Prague Laboratory
Sýkora, Martin ; Kodyš, Peter (vedoucí práce) ; Řezníček, Pavel (oponent)
Předložená práce se zabývá automatizací a synchronizací nově instalova- ných zařízení v pražské laboratoři. Nová zařízení budou součástí experimentálního uspořádání sloužícího k laserovému testování nejen ITK modul· pro detektor AT- LAS, ale i dalších typ· křemíkových detektor· pro jiné projekty. Kromě zajištění centrálního ovládání pořízených přístroj· bylo cílem této práce pochopení principu detekce částic ve fyzice vysokých energií a seznámení se s konstrukcí pixelových a stripových křemíkových detektor·. Aktivně jsem se podílel na tvorbě kódu pro ovlá- dání laseru, posouvacích stolk·, optického atenuátoru a pulsního generátoru přes komunikační rozhraní RS-232 a GPIB z programu ROOT. Výstupem práce je úplné zprovoznění instalovaných zařízení včetně podrobného popisu jejich ovládání přilo- ženým softwarem a interními příkazy. Sestavená aparatura se bude v příštích letech podílet na výzkumu nové generace ITK modul· pro vylepšený ATLAS.
|
|
|
GUI pro automatizaci měření impedance na Agilent 4294A
Dejdar, Petr ; Jeřábek, Jan (oponent) ; Hanák, Pavel (vedoucí práce)
Bakalářská práce je zaměřena na vytvoření ovládacího softwaru pro impedanční analyzátor Agilent 4294A. V bakalářské práci je vysvětlen přenos dat přes sběrnici GPIB, základy programovacího prostředí LabView od National Instruments, popis samotného impedančního analyzátoru Agilent 4294A a jeho ovladačů pro LabVIEW. V praktické části je podrobně rozebrán ovládací program, který má za úkol přenos dat z analyzátoru, jejich převod do formátu .xlsx pro Microsoft Excel a vytvoření screenshotu obrazovky ve formátu .png. Jsou zde popsány všechny podprogramy zahrnující nastavování a čtení nastavení analyzátoru. V závěru jsou zhodnoceny případné varianty programu z hlediska časové náročnosti a složitosti.
|
host ::
RSS.