|
|
Distribuce přesného optického kmitočtu s plnou kompenzací indukovaného Dopplerovského šumu
Pravdová, Lenka ; Čížek, Martin ; Hrabina, Jan
V aplikacích náročných na stabilitu optické frekvence je obvykle potřeba kombinovat dva nebo více referenčních stupňů tak, aby byla zajištěna krátkodobá i dlouhodobá stabilita laserového zdroje. Krátkodobou frekvenční stabilitu mohou zajistit například vysokojakostní optické rezonátory, druhý stupeň pro dlouhodobou stabilitu pak může tvořit např. vodíkový maser referencovaný synchronizačním signálem z GPS přijímače. Při distribuci stabilních optických kmitočtů k cílové aplikaci působí na přenášený signál rušivé vlivy okolního prostředí. Tyto efekty jsou zvláště patrné při přenosech optickými vlákny, kde akustické rušení, vibrace a změny teploty prostředí způsobují indukovaný fázový šum. Naše práce pojednává o řešení distribuční sítě stabilních optických kmitočtů pomocí volné optiky a popisuje vzájemnou návaznost jednotlivých referencí v rámci laboratoří ÚPT.
|
|
| |
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
Stabilizace pro optický přijímač
Kolka, Z. ; Barcík, P. ; Novotný, Jan ; Biolková, V.
Free-Space Optics (FSO) je bezdrátová optická technologie pro spojení na přímou viditelnost. Čelo přijímacího optického vlákna je umístěno v ohnisku teleskopu. Relativně malý průměr jádra klade extrémní nároky na směrování přijímače za podmínek atmosférické turbulence a otřesů upevňovacích konzol. K zajištění stabilizace svazku slouží systém jemného směrování. Detekční jednotka vyhodnocuje pomocí fotodiod polohu těžiště stopy svazku a změnou natočení zrcátka kompenzuje odchylky.
|
|
|
Novel embedding resins for 3D-SEM II
Šlouf, Miroslav ; Pavlova, Ewa ; Strachota, Beata ; Strachota, Adam ; Nebesářová, Jana ; Týč, Jiří ; Krzyžánek, Vladislav ; Skoupý, Radim
Research report for Thermo Fisher Scientific s. r. o., based on common project awarded by TA CR (program: National center of competence, TN01000008).
|
|
| |
|
|
Automation of metallographic sample cleaning process
Čermák, Jan ; Ambrož, Ondřej ; Jozefovič, Patrik ; Mikmeková, Šárka
Specimen cleaning and drying are critical processes following any metallographic preparation steps. The paper focuses on automation by reason of absence of the process repeatability during manual sample handling. An etchant or electrolyte results in inhomogeneous surface quality because the solution runs off the specimen surface during its removal from the beaker. High-quality specimen cleaning is absolutely crucial for the acquisition of the specimen suitable for characterization by a scanning electron microscope operated at very low landing energies of the primary electrons (SLEEM). The SLEEM technique is a powerful tool for the characterization of advanced steels, as described by many scientific papers. The SLEEM requires the specimen absolutely free of water and any organic residues on the surface. This work presents a novel unique apparatus enabling automatic specimen cleaning and drying after the etching or electropolishing processes. Automation reduces the influence of dependent variables that would be introduced into the process by the metallographer. These variables include cleaning time, kinematics, and motion dynamics, but the process can also be affected by variables that are not obvious. Performed experiments clearly demonstrate our in-house designed apparatus as a useful tool improving efficiency and consistency of the sample cleaning process. The high quality of the specimen surface is verified using a light optical microscope, an electron scanning microscope, and above mentioned SLEEM technique.
|
|
| |
host ::
RSS.