Čerňanský, Marian - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: Čerňanský, Marian

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Structure of submicrocrystalline materials studied by X-ray diffraction Matěj, Zdeněk ; Kužel, Radomír (vedoucí práce) ; Lukáš, Petr (oponent) ; Čerňanský, Marian (oponent) Rentgenovou práškovou difrakcí byla studována struktura submikrokrystalických materiálů. Pro analýzu byla použita především metoda využívající modelování šířek a tvarů difrakčních profilů. Zkoumány byly koloidní nanočástice zlata, měděné vzorky deformované protlačováním a nanočástice oxidu titaničitého připravené různými chemickými metodami. Z charakteristické anisotropie rozšíření difrakčních profilů byly ve vzorcích mědi a zlata rozpoznány dislokace a růstové vrstevné chyby. Z difrakčních dat bylo možné určit hustoty defektů. Možnosti a omezení určování rozdělení velikostí částic pomocí difrakčních metod byly testovány na vzorcích oxidu titaničitého. Částice o velikosti 3-25 nm bylo možné charakterizovat velmi dobře, problémy se projevily pouze v případě, když vzorky obsahovaly zároveň částice velmi rozdílných velikostí. Byly vyvinuty a otestovány difrakční metody a vytvořen počítačový program, které lze používat i k analýze tenkých vrstev. Úplný záznam
	Microstructure of Submicrocrystalline Metals after Severe Plastic Deformation and Its Thermal Stability Cherkaska, Viktoriya ; Kužel, Radomír (vedoucí práce) ; Ganev, Nikolaj (oponent) ; Čerňanský, Marian (oponent) Úplný záznam
	Structure of submicrocrystalline materials studied by X-ray diffraction Matěj, Zdeněk ; Kužel, Radomír (vedoucí práce) ; Lukáš, Petr (oponent) ; Čerňanský, Marian (oponent) Rentgenovou práškovou difrakcí byla studována struktura submikrokrystalických materiálů. Pro analýzu byla použita především metoda využívající modelování šířek a tvarů difrakčních profilů. Zkoumány byly koloidní nanočástice zlata, měděné vzorky deformované protlačováním a nanočástice oxidu titaničitého připravené různými chemickými metodami. Z charakteristické anisotropie rozšíření difrakčních profilů byly ve vzorcích mědi a zlata rozpoznány dislokace a růstové vrstevné chyby. Z difrakčních dat bylo možné určit hustoty defektů. Možnosti a omezení určování rozdělení velikostí částic pomocí difrakčních metod byly testovány na vzorcích oxidu titaničitého. Částice o velikosti 3-25 nm bylo možné charakterizovat velmi dobře, problémy se projevily pouze v případě, když vzorky obsahovaly zároveň částice velmi rozdílných velikostí. Byly vyvinuty a otestovány difrakční metody a vytvořen počítačový program, které lze používat i k analýze tenkých vrstev. Úplný záznam
	Aproximace Fourierových koeficientů difrakčních profilů Čerňanský, Marian Je podán stručný přehled aproximací, které se vyskytují ve Warrenově–Averbachově interpretaci Fourierových koeficientů difrakčních profilů. Je ukázáno, že jisté aproximace průběhu Fourierových koeficientů umožňují stanovit velikost krystalitů a mikrodeformací jen z jedné difrakční linie.\n\n Úplný záznam
	Microstresses and x-ray diffraction Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Ganev, N. ; Kolařík, K. ; Pala, Z. The description of an influence of microstresses and macrostresses on diffraction line profiles. Depth distribution of residual stresses in the shot-peened steel obtained by X-ray diffraction. Úplný záznam
	Microstrains and x-ray diffraction Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Kolařík, K. An attention is paid to the microstrain – its effect on X-ray diffraction and a method to its estimation from a broadening of diffraction lines. Especially, the single line Voigt function method is presented for the estimation of the microstrain and crystallite size from a single diffraction line. Úplný záznam
	Kompletní rentgenové studium pole zbytkového napětí způsobeného balotinováním ocelí Ganev, N. ; Čerňanský, Marian ; Drahokoupil, Jan ; Kolařík, K. Příspěvek informuje o současném stanovení hloubkových profilů makroskopických a mikroskopických zbytkových napětí v povrchových vrstvách. Získané výsledky ukazují, že hloubková rozložení obou zmíněných veličin se liší. Úplný záznam
	Příspěvek k difrakční analýze makroskopických a mikroskopických zbytkových napětí v povrchových vrstvách balotinovaných ocelí Ganev, N. ; Čerňanský, Marian ; Drahokoupil, Jan ; Kolařík, K. Popis a výsledky studia hloubkových profilů zbytkových napětí v povrchových v povrchových vrstvách balotinovaných ocelí. Byl studován vliv intenzity kuličkování a korelace mezi absolutními hodnotami makroskopických a mikroskopických napětí na povrchu jednotlivých materiálů. Úplný záznam
	Gradienty zbytkových napětí a nanotvrdosti v povrchových vrstvách leštěných vzorků ocelí Ganev, N. ; Čerňanský, Marian ; Drahokoupil, Jan ; Zubko, P. ; Bláhová, O. Příspěvek obsahuje výsledky analýzy gradientů zbytkových napětí a nanotvrdosti v povrchových vrstvách leštěných vzorků ocelí. Ukazuje, že makroskopická napětí, mikrodeformace a mikrotvrdost zkoumaných materiálů jsou směrem do hloubky leštěných vrstev nehomogénní. Úplný záznam
	A comparison of methods for particle size determination Čerňanský, Marian ; Holý, V. ; Kub, Jiří ; Kuběna, J. Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
2	Čerňanský, Michal

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English