Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 63 záznamů.  začátekpředchozí44 - 53další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Diagnostika polovodičových materiálů metodou EBIC
Davidová, Lenka ; Máca, Josef (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na diagnostiku polovodičových materiálů metodou EBIC (měření proudů indukovaných svazkem), stanovování doby života minoritních nosičů, resp. jejich difuzní délky. V teoretické části práce je uveden princip rastrovacího elektronového mikroskopu, jeho charakteristické vlastnosti mikroskopu a signály vznikající při interakci svazku primárních elektronů se vzorkem. Dále je v práci popsána struktura polovodivého křemíku, jeho pásové modely, typy poruch krystalové mříže a vytvoření nevlastních polovodičových struktur. Následně je popsána teorie výpočtu doby života minoritních nosičů náboje a výpočty difuzní délky minoritních nosičů náboje v polovodičích typu N a P. Cílem experimentální části práce je měření vlastností polovodičových struktur metodou EBIC a stanovení difuzní délky a doby života minoritních nosičů náboje na základě změřených dat.
Vliv pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu Vega 3 XMU na signál detekovaný BSE detektorem
Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Táto práca je zameraná na zisťovanie vplyvu rôznych pracovných podmienok v rastrovacom elektrónovom mikroskope na signál detekovaný detektorom spätne odrazených elektrónov. V teoretickej časti je všeobecný popis rastrovacieho elektrónového mikroskopu, problematiky spätne odrazených elektrónov a taktiež popis metód vyhodnocovania pomeru signál - šum. Praktická časť je zameraná na priame pozorovanie vhodných vzorkov v rastrovacom elektrónovom mikroskope.
Vliv pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu Vega 3 XMU na signál detekovaný BSE detektorem
Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Táto práca je zameraná na zisťovanie vplyvu rôznych pracovných podmienok v rastrovacom elektrónovom mikroskope na signál detekovaný detektorom spätne odrazených elektrónov. V teoretickej časti je všeobecný popis rastrovacieho elektrónového mikroskopu, problematiky spätne odrazených elektrónov a taktiež popis metód vyhodnocovania pomeru signál - šum. Praktická časť je zameraná na priame pozorovanie vhodných vzorkov v rastrovacom elektrónovom mikroskope.
Vliv pracovních podmínek v environmentálním SEM na výsledky EDS
Kaplenko, Oleksii ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Bakalářská práce obsahuje princip funkce environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu (ESEM), problematiku detekce charakteristického rentgenového záření metodou energiově disperzní spektroskopie. Popisuje detekci rentgenového záření pomocí silicon drifted detektoru a také princip kvalitativní a kvantitativní rentgenové mikroanalýzy. Cílem této práce je studium vlivu pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu VEGA3 XMU vybaveného Xflash 6 | 10 spektroskopem na výsledky rentgenové mikroanalýzy a jejich vyhodnocení.
Ionizační detektor pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Melechovský, Ondřej ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá environmentální rastrovací elektronovou mikroskopií. Na začátek je stručně popsána stavba přístroje. Důležitá část práce je věnována interakcím elektronů se vzorkem a signálům vystupujícím ze vzorku. Zejména se práce soustředí na detekci sekundárních elektronů pomocí ionizačního detektoru. Experimentálně je v práci určen vliv pracovních podmínek a velikosti elektrodového systému ionizačního detektoru na velikost detekovaného signálu.
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Odehnal, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Práce obsahuje teoretické poznatky z oblasti rastrovací elektronové mikroskopie. Je popsána konstrukce, princip činnosti a signály vzniklé interakcemi mezi svazkem primárních elektronů a vzorkem. Dále je vysvětlena nejrozšířenější metoda detekce sekundárních elektronů pomocí scintilačního detektoru. Další kapitoly se věnují jednomu z posledních vývojových stádií rastrovací elektronové mikroskopie, a to environmentální rastrovací elektronovou mikroskopií. Praktická část se zabývá vyhodnocováním závislostí velikosti signálu detekovaného scintilačním detektorem na tlaku vodních par v komoře vzorku. Je zde posuzována vhodná velikost napětí přiložených na elektrody scintilačního detektoru pro optimalizování detekce.
Vliv pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí LVSTD detektoru
Tylich, Ondřej ; Zimáková, Jana (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Bakalářská práce seznamuje s činností nízkovakuového elektronového rastrovacího mikroskopu a popisuje jeho jednotlivé součásti. Vysvětluje rozdíl mezi nízkovakuovým a vysokovakuovým rastrovacím elektronovým mikroskopem. Obsahuje informace o vzniku signálů a detekci sekundárních elektronů pomocí scintilačního detektoru. Zjednodušeně popisuje výpočet poměru signál šum a metodu získávání hodnoty velikosti signálu. Práce se zaměřuje na zkoumání vlivu pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí Low Vacuum Secondary Electron TESCAN Detectoru (LVSTD) a na měření poměru signál šum. Cílem práce je zjistit stabilitu a vliv pracovních podmínek na LVSTD.
Vliv pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí BSE detektoru
Bednář, Eduard ; Zimáková, Jana (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá zhodnocením kvality signálu zpětně odražených elektronů detekovaných scintilačním detektorem v závislosti na nastavených pracovních podmínkách v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu. V teoretické části práce je popsána problematika enviromentální rastrovací elektronové mikroskopie, princip vzniku signálů a detekce zpětně odražených elektronů. Cílem experimentální části práce je měření vlastností scintilačního detektoru zpětně odražených elektronů. Sérií experimentů je vyhodnocován vliv pracovních podmínek na stabilitu a funkci detektoru zpětně odražených elektronů.
Vliv pracovních podmínek v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu na výsledky rentgenové analýzy
Hudzik, Martin ; Zimáková, Jana (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Bakalárska práca sa zaoberá detekciou charakteristického röntgenového žiarenia a energiovo disperznou spektroskopiou v prostredí nízkovákuového rastrovacieho elektrónového mikroskopu. Opisuje detekciu röntgenového žiarenia pomocou silicon drifted detektoru, a tiež princíp kvalitatívnej a kvantitatívnej röntgenovej analýzy. Cieľom tejto práce je predviesť energiovo disperznú spektroskopiu známych prvkov za optimálnych podmienok a sledovať zmeny parametrov a výsledkov spektroskopie počas zmeny pracovných podmienok v nízkovákuovom rastrovacom elektrónovom mikroskope Vega3 XMU s Xflash 6|10 spektroskopom.
Ionizační detektor sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Dušek, Petr ; Zimáková, Jana (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů ionizačním detektorem pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop. V práci je vysvětlen rozdíl mezi rastrovacím elektronovým mikroskopem a environmentálním rastrovacím elektronovým mikroskopem. Dále je popsána emise a detekce vybraných signálů vznikajících při interakci primárních elektronů se vzorkem v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Důraz je kladen na popis, rozdělení a způsob detekce sekundárních elektronů. V práci je popsán princip funkce ionizačních a scintilačních detektorů. V experimentální části práce je uveden návrh konstrukce tří různých elektrodových systémů deskového ionizačního detektoru pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop. Na základě měření s navrženými detektory je vybrán detektor s nejvyšší kvalitou detekce signálu.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 63 záznamů.   začátekpředchozí44 - 53další  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.