Název: Vliv pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu Vega 3 XMU na signál detekovaný BSE detektorem
Překlad názvu: Influence of working conditions on the detected signal by BSE detector in the scanning electron microscope Vega 3 XMU
Autoři: Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: environmentálny rastrovací elektrónový mikroskop; pomer signál-šum; Rastrovací elektrónový mikroskop; scinilačný detektor spätne odrazených elektrónov; spätne odrazené elektróny; backscattered electrons; electron microscope; environmental scanning electron microscope; scintillation detector od backscattered electrons; signal to noise ratio

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/61687

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-255226


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2016-09-20, naposledy upraven 2022-03-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet