|
|
SiO2 etching by Si deposition
Pokorný, David ; Bábor, Petr (referee) ; Polčák, Josef (advisor)
This bachelor thesis deals with one of the most interesting reactions taking place in the solid phase in UHV conditions and that is decomposition of SiO2 according to the equation Si + SiO2 = 2SiO. It was used the previously untested procedure - providing Si atoms not from substrate, but by direct deposition on the surface of the oxide. As a source of silicon atoms was used effusion cell. Deposition of silicon on SiO2 substrate was used at room temperature and at elevated temperature to clarify the principle of this reaction. The activation energy and temperature dependence of the reaction rate was determined. It was also verified the possibility of etching SiO2 by Si deposition in UHV conditions. The prepared samples were examined by x-ray photoelectron spectroscopy and atomic force microscopy.
|
|
|
Thin film systems
Rada, Vojtěch ; Sedlaříková, Marie (referee) ; Zatloukal, Miroslav (advisor)
This bachelor’s thesis is focused on the problematics of thin-film technology. In the beginning the work deals with a general theory of this problematics, discusses various methods and ways to lay a thin film, where more emphasis is placed on magnetron sputtering, which is used in the practical part of the work, and describes procedures that are performed before and after the application of the thin film. The magnetron sputtering coating machine NP-12 and its control are described in the practical part of the work. Subsequently the selection and adjustment of suitable substrates is made, the thin-film system is deposited using the magnetron sputtering method and the analysis of the properties of deposited thin-film samples is done.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (referee) ; Zicha,, Josef (referee) ; Kotačka, Libor (referee) ; Druckmüller, Miloslav (advisor)
V této práci je prezentována inovativní metoda zvaná \textit{Zobrazovací Reflektometrie}, která je založena na principu spektroskopické reflektometrie a je určena pro vyhodnocování optických vlastností tenkých vrstev .\ Spektrum odrazivosti je získáno z map intenzit zaznamenaných CCD kamerou. Každý záznam odpovídá předem nastavené vlnové délce a spektrum odrazivosti může být určeno ve zvoleném bodu nebo ve vybrané oblasti.\ Teoretický model odrazivosti se fituje na naměřená data pomocí Levenberg~-~Marquardtova algoritmu, jehož výsledky jsou optické vlastnosti vrstvy, jejich přesnost, a určení spolehlivosti dosažených výsledků pomocí analýzy citlivosti změn počátečních nastavení optimalizačního algoritmu.
|
|
|
Non-Destructive Local Diagnostics of Optoelectronic Devices
Sobola, Dinara ; Pína,, Ladislav (referee) ; Pinčík,, Emil (referee) ; Tománek, Pavel (advisor)
Chceme-li využít nové materiály pro nová optoelektronická zařízení, potřebujeme hlouběji nahlédnout do jejich struktury. K tomu, abychom toho dosáhli, je však nutný vývoj a aplikace přesnějších diagnostických metod. Předložená disertační práce, jako můj příspěvek k částečnému dosažení tohoto cíle, se zabývá metodami lokální diagnostiky povrchu optoelektronických zařízení a jejich materiálů, většinou za využití nedestruktivních mechanických, elektrických a optických technik. Tyto techniky umožňují jednak pochopit podstatu a jednak zlepšit celkovou účinnost a spolehlivost optoelektronických struktur, které jsou obecně degradovány přítomností malých defektů, na nichž dochází k absorpci světla, vnitřnímu odrazu a dalším ztrátovým mechanismům. Hlavní úsilí disertační práce je zaměřeno na studium degradačních jevů, které jsou nejčastěji způsobeny celkovým i lokálním ohřevem, což vede ke zvýšené difúze iontů a vakancí v daných materiálech. Z množství optoelektronických zařízení, jsem zvolila dva reprezentaty: a) křemíkové solární články – součástky s velkým pn přechodem a b) tenké vrstvy – substráty pro mikro optoelektronická zařízení. V obou případech jsem provedla jejich detailní povrchovou charakterizaci. U solárních článků jsem použila sondovou mikroskopii jako hlavní nástroj pro nedestruktivní charakterizaci povrchových vlastností. Tyto metody jsou v práci popsány, a jejich pozitivní i negativní aspekty jsou vysvětleny na základě rešerše literatury a našich vlastních experimentů. Je také uvedeno stanovisko k použití sondy mikroskopických aplikací pro studium solárních článků. V případě tenkých vrstev jsem zvolila dva, z hlediska stability, zajímavé materiály, které jsou vhodnými kandidáty pro přípravu heterostruktury: safír a karbid křemíku. Ze získaných dat a analýzy obrazu jsem našla korelaci mezi povrchovými parametry a podmínkami růstu heterostruktur studovaných pro optoelektronické aplikace. Práce zdůvodňuje používání těchto perspektivních materiálů pro zlepšení účinnosti, stability a spolehlivosti optoelektronických zařízení.
|
|
|
Thin layers TiO2 prepared by electrochemical way
Janov, Pavel ; Zatloukal, Miroslav (referee) ; Sedlaříková, Marie (advisor)
This work deals with issue of preparation active electrochromic film of titanium dioxide and intercalation properties. By electrodeposition was created active film on glass substrates covered with transparent conductive thin-film In2O3:Sn (ITO). The active films prepared by electrolytic way were compared with active films prepared by vacuum methods. Then has been studied theirs electrode properties in electrolytes containing lithium.
|
|
|
Selective growth of metallic materials.
Šimíková, Michaela ; Schneeweiss, Oldřich (referee) ; Čechal, Jan (advisor)
The diploma thesis deals with selective growth of cobalt thin films on lattices created by focused ion beam on Si(111) substrates with thin film of silicon dioxide. Further, the growth and morphology of iron thin films growing on Si/SiO2 substrate without modification was studied. In the last part, thin film of a-C:H, influence of preparation parameters on their growth and ratio of sp2 and sp3 bonds, was investigated. For analysis of those films XPS, AFM, and SEM metods were used.
|
|
|
Elimination of degradation processes of metallic thin films
Danovič, Jakub ; Šubarda, Jiří (referee) ; Šimonová, Lucie (advisor)
This work deals with issues of thin films, their behaviour in different enviroments and protection of theese films against unwanted degradation processes. Metal thin films are made by special physical or chemical methods in the presence of vacuum. Deposition is performed on properly cleaned substrate made of different materials, for example glass, ceramics or another metal. Theese films degrades under the influence of moisture, heat and other. There are several types of films on different bases made to prevent thin films against degradation.
|
|
|
Estimation of mechanical properties of thin films using numerical modelling of experimental tests
Tinoco Navarro, Hector Andres ; Jančo,, Roland (referee) ; Klusák,, Jan (referee) ; Hutař, Pavel (advisor)
Testování tenkých filmů pomocí "Bulge testu" je experimentální technika která zahrnuje použití numerických a analytických přístupů k charakterizaci mechanických vlastností tenkých vrstev. Tato práce se zabývá některými omezeními nalezenými v klasických modelech, které popisují chování tenkých vrstev podrobených tomuto testu. Za tímto účelem byly vyvinuty nové modely a numerické strategie pro stanovení různých mechanických vlastností jednovrstvých a dvouvrstvých tenkých vrstev za odlišných strukturních podmínek, jako je elasticita, plasticita a lom. Kombinací metody konečných prvků a klasických analytických řešení byly navrženy a ověřeny různé metodiky pro výpočet elastických vlastností (E a v), zbytkových napětí, meze kluzu a lomové houževnatosti. Mechanické vlastnosti filmů z nitridu křemíku, hliníku a zlata byly charakterizovány pomocí experimentálních dat o zatížení-průhybu získaných z měření. Stanovené vlastnosti vykazovaly uspokojivou shodu s což potvrdilo, že metody navržené v této práci mohou být užitečné pro odhad mechanických vlastností se známými materiálovými vlastnostmi tenkých vrstev.
|
|
|
Preparation of the human skin barrier model using thin lipid film deposition
Suciu-Šubert, Karina ; Pullmannová, Petra (advisor) ; Opálka, Lukáš (referee)
Charles University, Faculty of Pharmacy in Hradec Králové Department of Biophysics and Physical Chemistry Student: Karina Suciu-Šubert Supervisor: Mgr. Petra Pullmannová, Ph.D. Title of diploma thesis: Preparation of the human skin barrier model by using thin lipid film deposition The uppermost part of the human skin - the stratum corneum, which protects the body from the external environment, is made up of cornified cells - corneocytes, which are surrounded by the extracellular matrix of highly ordered lipids: ceramides (Cer), fatty acids and cholesterol. The protective barrier is constantly renewed with so-called keratinocytes, which differentiate to corneocytes and finally desquamate from skin to surface. The corneocyte envelope replaces plasma membrane of corneocytes. It consists of proteins (eg. involucrin) and a lipid monolayer consisting mainly of ω-hydroxyceramides which are attached to the protein segments by covalent bonds. The task of this diploma thesis was the preparation of the human skin barrier model by using thin lipid film deposition. Two different lipid mixtures were based on Cer NS or Cer EOS and NS. The mixtures were applied on the hydrophilic or hydrophobic substrate by spraying with Linomat V. The amount of lipids and consequently the number of theoretical lipid layers on the...
|
|
|
Thin film systems
Rada, Vojtěch ; Sedlaříková, Marie (referee) ; Zatloukal, Miroslav (advisor)
This bachelor’s thesis is focused on the problematics of thin-film technology. In the beginning the work deals with a general theory of this problematics, discusses various methods and ways to lay a thin film, where more emphasis is placed on magnetron sputtering, which is used in the practical part of the work, and describes procedures that are performed before and after the application of the thin film. The magnetron sputtering coating machine NP-12 and its control are described in the practical part of the work. Subsequently the selection and adjustment of suitable substrates is made, the thin-film system is deposited using the magnetron sputtering method and the analysis of the properties of deposited thin-film samples is done.
|
guest ::
